[發(fā)明專利]一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011605697.7 | 申請日: | 2020-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN113138330A | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張棪棪 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州裕太微電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 防止 芯片 測試 模式 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域,尤其涉及一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統(tǒng)。方法包括:步驟S1,預(yù)置對應(yīng)于所述測試模式的導(dǎo)入碼型;步驟S2,獲取所述第一引腳接收到的第一信號;步驟S3,對所述第一信號進行處理,并判斷處理后的所述第一信號是否屬于所述導(dǎo)入碼型,根據(jù)判斷結(jié)果控制所述芯片進入測試模式。本發(fā)明的技術(shù)方案有益效果在于:提供一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統(tǒng),能夠準確且快速地控制芯片進入測試模式,避免因使用者誤操作而導(dǎo)致芯片進行測試模式,進而影響到芯片的正常工作。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域,尤其涉及一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
IC(Integrated Circuit,芯片),又稱集成電路,是一種微型電子器件或部件,通過一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)。芯片的運行模式通常可分為工作模式和測試模式,其中,工作模式是芯片的正常運行模式,對于一般的用戶來說,通常是在工作模式中進行工作;測試模式是芯片供應(yīng)商在生產(chǎn)芯片后,在ATE(Automatic Test Equipment,自動測試設(shè)備)機臺上進行測試的模式,在該模式下,可以對芯片的各個管腳施加不同的激勵,來測試芯片生產(chǎn)或封裝環(huán)節(jié)是否出現(xiàn)問題,以實現(xiàn)芯片內(nèi)部電路的運行測試。
這兩種模式是互斥的,芯片處于測試模式時,無法執(zhí)行工作模式中預(yù)定的功能,由此,使用者通常不希望芯片誤入測試模式。然而現(xiàn)有技術(shù)中,由于芯片的模式設(shè)置接口復(fù)雜,往往會由于用戶的誤操作或者故意的因素,而導(dǎo)致芯片進入測試模式,使得芯片無法正常工作,甚至出現(xiàn)安全問題。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題,現(xiàn)提供一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統(tǒng)。
其中,一種防止芯片誤入測試模式的方法,所述芯片包括一用于接收第一信號的第一引腳;
所述方法包括:
步驟S1,預(yù)置對應(yīng)于所述測試模式的導(dǎo)入碼型;
步驟S2,獲取所述第一引腳接收到的第一信號;
步驟S3,對所述第一信號進行處理,并判斷處理后的所述第一信號是否屬于所述導(dǎo)入碼型,根據(jù)判斷結(jié)果控制所述芯片進入測試模式。
優(yōu)選的,所述第一引腳為復(fù)位引腳,所述復(fù)位引腳用于接收一第一信號;
所述步驟S3,包括:
步驟S31,對所述第一信號進行消抖處理生成對應(yīng)的第二信號,并根據(jù)所述第一信號和所述第二信號生成第三信號;
步驟S32,根據(jù)所述第二信號和所述第三信號,判斷對應(yīng)的所述第一信號是否屬于所述導(dǎo)入碼型,并根據(jù)判斷結(jié)果控制所述芯片進入測試模式。
優(yōu)選的,所述芯片還包括一時鐘引腳,所述時鐘引腳用于接收一時鐘信號;
所述步驟S31,包括:
步驟S311,獲取所述時鐘信號,并根據(jù)所述時鐘信號對第一信號進行采樣處理;
步驟S312,根據(jù)采樣處理后的所述第一信號和所述第二信號生成所述第三信號。
優(yōu)選的,所述第一信號包括對應(yīng)于所述導(dǎo)入碼型的導(dǎo)入部分和對應(yīng)于功能配置的配置部分;所述方法還包括:
所述芯片于所述測試模式中,根據(jù)所述配置部分對所述芯片進行配置。
一種防止芯片誤入測試模式的系統(tǒng),所述芯片包括一用于接收第一信號的第一引腳;
所述系統(tǒng)包括:
預(yù)置模塊,用于預(yù)置對應(yīng)于所述測試模式的導(dǎo)入碼型;
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