[發明專利]一種防止芯片誤入測試模式的方法及系統

在審

• 申請號: 202011605697.7
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN113138330A
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 張棪棪
• 申請（專利權）人: 蘇州裕太微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

1.一種防止芯片誤入測試模式的方法，其特征在于，所述芯片包括一用于接收第一信號的第一引腳；

所述方法包括：

步驟S1，預置對應于所述測試模式的導入碼型；

步驟S2，獲取所述第一引腳接收到的第一信號；

步驟S3，對所述第一信號進行處理，并判斷處理后的所述第一信號是否屬于所述導入碼型，根據判斷結果控制所述芯片進入測試模式。

2.根據權利要求1所述的防止芯片誤入測試模式的方法，其特征在于，所述第一引腳為復位引腳，所述復位引腳用于接收一第一信號；

所述步驟S3，包括：

步驟S31，對所述第一信號進行消抖處理生成對應的第二信號，并根據所述第一信號和所述第二信號生成第三信號；

步驟S32，根據所述第二信號和所述第三信號，判斷接收到的所述第一信號是否屬于所述導入碼型，并根據判斷結果控制所述芯片進入測試模式。

3.根據權利要求2所述的防止芯片誤入測試模式的方法，其特征在于，所述芯片還包括一時鐘引腳，所述時鐘引腳用于接收一時鐘信號；

所述步驟S31，包括：

步驟S311，獲取所述時鐘信號，并根據所述時鐘信號對第一信號進行采樣處理；

步驟S312，根據采樣處理后的所述第一信號和所述第二信號生成所述第三信號。

4.根據權利要求1所述的防止芯片誤入測試模式的方法，其特征在于，所述第一信號包括對應于所述導入碼型的導入部分和對應于功能配置的配置部分；所述方法還包括：

所述芯片于所述測試模式中，根據所述配置部分對所述芯片進行配置。

5.一種防止芯片誤入測試模式的系統，其特征在于，所述芯片包括一用于接收第一信號的第一引腳；

所述系統包括：

預置模塊，用于預置對應于所述測試模式的導入碼型；

控制模塊，連接所述預置模塊，用于獲取所述第一引腳接收到的第一信號并進行處理，判斷處理后的所述第一信號是否屬于所述導入碼型，根據判斷結果控制所述芯片進入測試模式。

6.根據權利要求5所述的防止芯片誤入測試模式的系統，其特征在于，所述第一引腳為復位引腳，所述復位引腳用于接收一第一信號；

所述控制模塊還包括：

一消抖單元，用于對所述第一信號進行消抖處理生成對應的第二信號；

一處理單元，連接所述消抖單元，用于獲取所述第一信號和所述第二信號并生成對應的第三信號；

一控制單元，連接所述處理單元，用于根據所述第二信號和所述第三信號，判斷對應的所述第一信號是否屬于所述導入碼型，并根據判斷結果控制所述芯片進入測試模式。

7.根據權利要求6所述的防止芯片誤入測試模式的系統，其特征在于，所述芯片還包括一時鐘引腳，所述時鐘引腳用于接收一時鐘信號；

所述處理單元包括：

第一處理部件，用于獲取所述時鐘信號，并根據所述時鐘信號對第一信號進行采樣處理；

第二處理部件，連接所述第一處理部件，用于根據采樣處理后的所述第一信號和所述第二信號生成所述第三信號。

8.根據權利要求6所述的防止芯片誤入測試模式的系統，其特征在于，所述第一信號包括對應于所述導入碼型的導入部分和對應于功能配置的配置部分；

所述配置模塊包括：

一配置單元，所述芯片于所述測試模式中，根據所述配置部分對所述芯片進行配置。