[發明專利]固態硬盤壞塊查詢方法、裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011600425.8
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112885402A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 高靜
• 申請（專利權）人: 北京浪潮數據技術有限公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44;G11C29/04
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉新雷

本申請公開了一種固態硬盤壞塊查詢方法、裝置及計算機可讀存儲介質。其中，方法包括在固態硬盤運行過程中，當檢測到存在壞塊，基于固態硬盤的nand顆粒參數標注壞塊相應的比特位，并將比特位標注結果存儲至位圖中。當接收到壞塊查詢指令，根據壞塊查詢指令中的目標壞塊信息查詢位圖，得到目標壞塊的查詢結果，本申請可以高效、準確地查詢壞塊信息，提升SSD性能。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別是涉及一種固態硬盤壞塊查詢方法、裝置及計算機可讀存儲介質。

背景技術

服務器上SSD(SolidStateDisk，固態硬盤)后端存儲使用的計算機閃存設備nand顆粒，不同容量的nand顆粒在物理結構上是不同的。一顆nand物理結構可分1個target，2個target，4個target。target為擁有自己片選信號的獨立閃存。每個target上又可分為1個LUN (LogicalUnitNumber，邏輯單元號)，2LUN等。每個LUN又可劃分為單個單元plane，兩個plane等。plane為由一系列物理塊組成的單元，plane0由奇數的物理塊組成，plane1由偶數的物理課組成。每個 plane又有1048，2096等多個物理塊block，每個block又有128，256 等多個頁page。

基于NAND Flash生產商的默認約定，相關技術通常采用spare area的第六個byte作為壞塊標記。在查詢壞塊時，需要依次看每個物理塊的第六個byte是否標記為壞塊。SSD屬于大容量存儲，其需要多顆nand，如果某個物理塊block出現壞塊，每顆nand的拓撲物理結構復雜，多顆nand就使得整個物理結構更加復雜，在多種nand顆粒中找到壞塊，就需要耗費大量的時間和精力。

隨著用戶對SSD性能的要求越來越高，如何高效、準確地查詢壞塊信息，提升SSD性能，是所屬領域技術人員需要解決的技術問題。

發明內容

本申請提供了一種固態硬盤壞塊查詢方法、裝置及計算機可讀存儲介質，可以高效、準確地查詢壞塊信息，提升SSD性能。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供以下技術方案：

本發明實施例一方面提供了一種固態硬盤壞塊查詢方法，包括：

在固態硬盤運行過程中，當檢測到存在壞塊，基于所述固態硬盤的nand顆粒參數標注所述壞塊相應的比特位，并將比特位標注結果存儲至位圖中；

當接收到壞塊查詢指令，根據所述壞塊查詢指令的目標壞塊信息查詢所述位圖，以得到所述目標壞塊的查詢結果。

可選的，所述將比特位標注結果存儲至位圖之后，還包括：

當接收到壞塊替換指令，查詢所述位圖得到待替換壞塊的查詢結果，并定位所述待替換壞塊；

利用所述壞塊替換指令中的替換物理塊的地址信息替換所述待替換壞塊的地址信息，以將寫入所述待替換壞塊中的數據寫入至所述替換物理塊。

可選的，所述將比特位標注結果存儲至位圖之后，還包括：

當接收到SSD更新指令，根據所述位圖確定所述固態硬盤的所有壞塊的標注比特位；

基于各壞塊的標準比特位執行所述SSD更新指令。可選的，所述基于所述固態硬盤的nand顆粒參數標注所述壞塊相應的比特位，并將比特位標注結果存儲至位圖中包括：

根據所述固態硬盤的容量和所述固態硬盤的nand顆粒的參數，將連接各nand顆粒的通道劃分為多組；

根據同一組內nand顆粒的參數確定表示物理壞塊的比特位數；

根據所述固態硬盤的nand顆粒中的物理塊數量計算存儲所述比特位標注結果所需字節數；