[發明專利]固態硬盤壞塊查詢方法、裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011600425.8
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112885402A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 高靜
• 申請（專利權）人: 北京浪潮數據技術有限公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44;G11C29/04
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 劉新雷

1.一種固態硬盤壞塊查詢方法，其特征在于，包括：

在固態硬盤運行過程中，當檢測到存在壞塊，基于所述固態硬盤的nand顆粒參數標注所述壞塊相應的比特位，并將比特位標注結果存儲至位圖中；

當接收到壞塊查詢指令，根據所述壞塊查詢指令的目標壞塊信息查詢所述位圖，得到所述目標壞塊的查詢結果。

2.根據權利要求1所述的固態硬盤壞塊查詢方法，其特征在于，所述將比特位標注結果存儲至位圖之后，還包括：

當接收到壞塊替換指令，查詢所述位圖得到待替換壞塊的查詢結果，并定位所述待替換壞塊；

利用所述壞塊替換指令中的替換物理塊的地址信息替換所述待替換壞塊的地址信息，以將寫入所述待替換壞塊中的數據寫入至所述替換物理塊。

3.根據權利要求2所述的固態硬盤壞塊查詢方法，其特征在于，所述將比特位標注結果存儲至位圖之后，還包括：

當接收到SSD更新指令，根據所述位圖確定所述固態硬盤的所有壞塊的標注比特位；

基于各壞塊的標準比特位執行所述SSD更新指令。

4.根據權利要求1至3任意一項所述的固態硬盤壞塊查詢方法，其特征在于，所述基于所述固態硬盤的nand顆粒參數標注所述壞塊相應的比特位，并將比特位標注結果存儲至位圖中包括：

根據所述固態硬盤的容量和所述固態硬盤的nand顆粒的參數，將連接各nand顆粒的通道劃分為多組；

根據同一組內nand顆粒的參數確定表示物理壞塊的比特位數；

根據所述固態硬盤的nand顆粒中的物理塊數量計算存儲所述比特位標注結果所需字節數；

根據所述比特位數對運行過程中產生的壞塊進行標注，并基于所述字節數將壞塊標注結果存儲至所述位圖中。

5.一種固態硬盤壞塊查詢裝置，其特征在于，包括：

壞塊標注模塊，用于在固態硬盤運行過程中，當檢測到存在壞塊，基于所述固態硬盤的nand顆粒參數標注所述壞塊相應的比特位；

標注結果存儲模塊，用于將比特位標注結果存儲至位圖中；

壞塊查詢模塊，用于當接收到壞塊查詢指令，根據所述壞塊查詢指令的目標壞塊信息查詢所述位圖，以得到所述目標壞塊的查詢結果。

6.根據權利要求5所述的固態硬盤壞塊查詢裝置，其特征在于，還包括塊替換模塊，所述塊替換模塊用于當接收到壞塊替換指令，查詢所述位圖得到待替換壞塊的查詢結果，并定位所述待替換壞塊；利用所述壞塊替換指令中的替換物理塊的地址信息替換所述待替換壞塊的地址信息，以將寫入所述待替換壞塊中的數據寫入至所述替換物理塊。

7.根據權利要求5所述的固態硬盤壞塊查詢裝置，其特征在于，還包括更新模塊，所述更新模塊用于當接收到SSD更新指令，根據所述位圖確定所述固態硬盤的所有壞塊的標注比特位；基于各壞塊的標準比特位執行所述SSD更新指令。

8.根據權利要求5至7任意一項所述的固態硬盤壞塊查詢裝置，其特征在于，所述壞塊標注模塊進一步用于：

根據所述固態硬盤的容量和所述固態硬盤的nand顆粒的參數，將連接各nand顆粒的通道劃分為多組；

根據同一組內nand顆粒的參數確定表示物理壞塊的比特位數；

根據所述固態硬盤的nand顆粒中的物理塊數量計算存儲所述比特位標注結果所需字節數；

根據所述比特位數對運行過程中產生的壞塊進行標注，并基于所述字節數將壞塊標注結果存儲至所述位圖中。

9.一種固態硬盤壞塊查詢裝置，其特征在于，包括處理器，所述處理器用于執行存儲器中存儲的計算機程序時實現如權利要求1至4任一項所述固態硬盤壞塊查詢方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有固態硬盤壞塊查詢程序，所述固態硬盤壞塊查詢程序被處理器執行時實現如權利要求1至4任一項所述固態硬盤壞塊查詢方法的步驟。