[發明專利]一種多頻點微波器件自動化測試方法及測試系統

有效

• 申請號: 202011598615.0
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112731110B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 楊博;李宗昆;李志超
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所有限公司 11386
• 代理人: 龔頤雯

本發明涉及一種多頻點微波器件自動化測試方法及測試系統，屬于無線電計量技術領域，解決了微波器件測試效率低下、無法滿足自動化測試需求的問題。方法步驟為：配置待測微波器件在每一待測頻點下的電平控制指令和測試子項；測試子項包括配置指令、數據獲取指令和技術指標；在每一待測頻點下執行測試過程，若在每一待測頻點下的測試均通過，則微波器件測試通過；每一待測頻點下執行的測試過程包括：微波器件基于電平控制指令及參考微波信號生成變頻微波信號；頻譜分析儀基于測試子項中的配置指令及數據獲取指令，從變頻微波信號中獲取相應測試子項下的測試數據；判斷測試數據是否滿足相應技術指標，若均滿足，則在當前待測頻點下的測試通過。

技術領域

本發明涉及無線電計量技術領域，尤其涉及一種多頻點微波器件自動化測試方法及測試系統。

背景技術

在射頻微波技術的研制和生產過程中，需要焊接大量鎖相源、點頻源、混頻器、放大器等微波器件。隨著射頻微波技術的發展，微波器件正逐漸向多頻點方向發展。

在微波器件測試過程中，需要根據待測頻點配置待測微波器件多個管腳的高低電平，而該過程通常需要人工手動切換輸入至對應管腳的電壓，同時需要人工記錄每一待測頻點下的待測微波器件管腳的高低電平配置情況、頻譜分析儀的配置要求、數據采集要求及技術指標，并對比采集到的數據與相應的技術指標，以此獲得待測微波器件的測試結果。考慮到同一待測微波器件需要完成多個待測頻點的測試工作，以上過程會明顯增加工作量及工作難度；同時，當更換待測微波器件時，需要重新執行以上人工操作過程，導致測試過程費時費力；此外，人工操作容易造成失誤，例如管腳電壓過載或誤操作短接等，可能會對器件造成不可逆轉的損壞。

綜上，現有的多頻點微波器件測試過程效率低下，無法滿足多頻點微波器件自動化測試需求。

發明內容

鑒于上述的分析，本發明實施例旨在提供一種多頻點微波器件自動化測試方法及測試系統，用以解決現有多頻點微波器件測試過程效率低下、無法滿足多頻點微波器件自動化測試需求的問題。

一方面，提供了一種多頻點微波器件自動化測試方法，包括如下步驟：

配置待測微波器件在每一待測頻點下的電平控制指令、一個或多個測試子項；所述測試子項包括配置指令、數據獲取指令和技術指標；

對所述待測微波器件在每一待測頻點下執行測試過程；若所述待測微波器件在每一待測頻點下的測試均通過，則所述待測微波器件測試通過；其中，

每一待測頻點下執行的測試過程包括：

所述待測微波器件基于所述電平控制指令及接收的參考微波信號，生成當前待測頻點對應的變頻微波信號；

頻譜分析儀基于每一測試子項中的配置指令及數據獲取指令，從所述變頻微波信號中獲取相應測試子項下的測試數據；

判斷每一測試子項下的測試數據是否滿足相應測試子項下的技術指標，若均滿足，則所述待測微波器件在當前待測頻點下的測試通過。

在上述方案的基礎上，本發明還做出了如下改進：

進一步，所述測試子項包括輸出功率測試子項、雜散抑制測試子項、諧波抑制測試子項及相位噪聲測試子項中的一項或多項。

進一步，所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述輸出功率測試子項下的測試數據：

根據所述配置指令復位所述頻譜分析儀、并將所述頻譜分析儀的掃頻寬度設置為第一掃頻寬度；

根據所述數據獲取指令，獲取所述變頻微波信號對應的頻域信號在所述第一掃頻寬度下的頻域信號峰值和輸出頻率。

進一步，所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述雜散抑制測試子項下的測試數據：

根據所述配置指令將所述頻譜分析儀的掃頻寬度設置為第二掃頻寬度；