[發明專利]一種多頻點微波器件自動化測試方法及測試系統

有效

• 申請號: 202011598615.0
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112731110B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 楊博;李宗昆;李志超
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所有限公司 11386
• 代理人: 龔頤雯

1.一種多頻點微波器件自動化測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

配置待測微波器件在每一待測頻點下的電平控制指令、一個或多個測試子項；所述測試子項包括配置指令、數據獲取指令和技術指標；所述電平控制指令為控制待測微波器件多個頻率控制管腳所需電壓對應的高低電平形成的二進制碼格式的指令；

對所述待測微波器件在每一待測頻點下執行測試過程；若所述待測微波器件在每一待測頻點下的測試均通過，則所述待測微波器件測試通過；其中，

每一待測頻點下執行的測試過程包括：

所述待測微波器件基于所述電平控制指令及接收的參考微波信號，生成當前待測頻點對應的變頻微波信號；

頻譜分析儀基于每一測試子項中的配置指令及數據獲取指令，從所述變頻微波信號中獲取相應測試子項下的測試數據；

判斷每一測試子項下的測試數據是否滿足相應測試子項下的技術指標，若均滿足，則所述待測微波器件在當前待測頻點下的測試通過；

所述測試子項包括輸出功率測試子項、雜散抑制測試子項、諧波抑制測試子項及相位噪聲測試子項中的一項或多項；

所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述輸出功率測試子項下的測試數據：

根據所述配置指令復位所述頻譜分析儀、并將所述頻譜分析儀的掃頻寬度設置為第一掃頻寬度；

根據所述數據獲取指令，獲取所述變頻微波信號對應的頻域信號在所述第一掃頻寬度下的頻域信號峰值和輸出頻率。

2.根據權利要求1所述的多頻點微波器件自動化測試方法，其特征在于，所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述雜散抑制測試子項下的測試數據：

根據所述配置指令將所述頻譜分析儀的掃頻寬度設置為第二掃頻寬度；

根據所述數據獲取指令，獲取所述變頻微波信號下的雜散信號，在所述第二掃頻寬度對應的帶寬范圍內搜索所述雜散信號的最大峰值，并獲取所述最大峰值的左側峰值及右側峰值；將所述左側峰值和右側峰值中的較大值作為雜散抑制值。

3.根據權利要求1所述的多頻點微波器件自動化測試方法，其特征在于，所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述諧波抑制測試子項下的測試數據：

根據配置指令設置所述頻譜分析儀的中心頻率為諧波抑制測試頻率；所述諧波抑制測試頻率為所述輸出頻率的2倍；

根據所述數據獲取指令，獲取所述諧波抑制測試頻率下的頻域信號峰值。

4.根據權利要求1所述的多頻點微波器件自動化測試方法，其特征在于，所述頻譜分析儀通過執行以下操作獲取所述相位噪聲測試子項下的測試數據：

根據所述配置指令切換頻譜分析儀至相位噪聲測試模式、并自動搜索載波；

根據所述數據獲取指令讀取自動搜索到的載波頻率偏差1KHz處的相位噪聲值。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的多頻點微波器件自動化測試方法，其特征在于，所述待測微波器件基于所述電平控制指令及參考微波信號，生成當前待測頻點對應的變頻微波信號，包括：

根據所述電平控制指令生成所述待測微波器件中每一頻率控制管腳對應的高低電平信號；

基于所述每一頻率控制管腳的對應的高低電平信號，調節每一頻率控制管腳的控制電壓；

調節每一頻率控制管腳的控制電壓后，所述待測微波器件將所述參考微波信號變頻至當前待測頻點對應的變頻微波信號。