[發明專利]一種光學薄膜測試方法及測試設備

有效

• 申請號: 202011598100.0
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112782129B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 呂張勇;曾慶坤;李廣杰;李永高;邱小兵;周凱斌;屈浩田;李昌席;蔣峰
• 申請（專利權）人: 蘇州創鑫激光科技有限公司;深圳市創鑫激光股份有限公司
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 深圳市程炎知識產權代理事務所(普通合伙) 44676
• 代理人: 蔡樂慶

1.一種光學薄膜測試方法，其特征在于，包括：

獲取待測物料的激光透過率，所述待測物料鍍有用于透射激光的光學薄膜，所述激光由激光器按照指定激光參數產生的；

確定所述激光作用于所述光學薄膜時的靶面溫度；

判斷所述激光透過率是否大于或等于預設透過閾值；

若大于或等于預設透過閾值，判斷所述靶面溫度是否小于或等于預設溫度閾值，若小于或等于預設溫度閾值，則所述光學薄膜屬于合格薄膜，若大于預設溫度閾值，則所述光學薄膜屬于不合格薄膜；

若小于預設透過閾值，則所述光學薄膜屬于不合格薄膜。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待測物料的激光透過率包括：

確定空測激光功率及實測激光功率；

計算所述實測激光功率與所述空測激光功率的比值，得到所述待測物料的激光透過率。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述光學薄膜鍍在所述待測物料的表面，激光功率由功率測量器采集得到，所述指定激光參數包括指定激光功率，所述確定空測激光功率包括：

當所述待測物料未放置在載物臺時，控制所述激光器按照所述指定激光功率產生激光，所述激光直接射向所述功率測量器；

獲取所述功率測量器采集的第一實時激光功率，所述第一實時激光功率為所述空測激光功率。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述確定實測激光功率包括：

當所述待測物料放置在所述載物臺時，控制所述激光器按照所述指定激光功率產生激光，所述激光射入所述光學薄膜后，透過所述待測物料射向所述功率測量器；

獲取所述功率測量器采集的第二實時激光功率，所述第二實時激光功率為所述實測激光功率。

5.根據權利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述控制所述激光器按照所述指定激光功率產生激光包括：

按照預設功率增量，逐級提高所述激光的當前激光功率至所述指定激光功率，使得所述激光器按照所述指定激光功率產生激光。

6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測物料為待測鍍膜光纖，激光功率由功率測量器采集得到，所述確定空測激光功率包括：

按照當前驅動電流，驅動所述激光器產生激光，所述激光注入標準鍍膜光纖后射向所述功率測量器；

獲取所述功率測量器采集的第三實時激光功率；

判斷所述第三實時激光功率是否大于功率穩定閾值；

若是，記錄所述第三實時激光功率對應的目標驅動電流，并將所述第三實時激光功率作為所述空測激光功率。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述確定空測激光功率還包括：

若否，按照預設電流增量，增加所述當前驅動電流，得到新的當前驅動電流，返回按照當前驅動電流，驅動所述激光器產生激光的步驟。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述指定激光參數包括目標驅動電流，所述確定實測激光功率包括：

控制所述激光器按照所述目標驅動電流產生激光，所述激光注入所述待測鍍膜光纖后射向所述功率測量器；

獲取所述功率測量器采集的第四實時激光功率，所述第四實時激光功率為所述實測激光功率。

9.一種測試設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及，

與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行如權利要求1至8任一項所述的光學薄膜測試方法。