[發明專利]一種印制品線狀缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 202011589738.8
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112598659A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 胥思桐;韓衛麗;金剛;趙嚴;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種印制品線狀缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取模板圖像和缺陷圖像，所述模板圖像為預先獲取的無缺陷圖像；

對所述模板圖像和所述缺陷圖像的RGB通道分別進行逐行卷積，確定所述模板圖像RGB通道卷積結果和所述缺陷圖像RGB通道卷積結果；

分別對所述模板圖像RGB通道卷積結果和所述缺陷圖像RGB通道卷積結果進行二值化，確定目標圖像，所述目標圖像包括：第一方向二值模板圖像、第二方向二值模板圖像、第一方向二值缺陷圖像、第二方向二值缺陷圖像，所述第一方向和所述第二方向相對；

分別對每一個目標圖像進行圖像變換，確定所述第一方向二值模板圖像對應第一方向模板特征圖像、所述第二方向二值模板圖像對應第二方向模板特征圖像、所述第一方向二值缺陷圖像對應第一方向缺陷特征圖像、所述第二方向二值缺陷圖像對應第二方向缺陷特征圖像；

當所述第一方向缺陷特征圖像和所述第一方向模板特征圖像對比出現新的特征峰值且所述第二方向缺陷特征圖像和所述第二方向模板特征圖像對比出現新的特征峰值，則判定所述缺陷圖像中的缺陷為線狀缺陷。

2.根據權利要求1所述的一種印制品線狀缺陷檢測方法，其特征在于，判定所述缺陷圖像中的缺陷為線狀缺陷，包括：

當所述特征峰值大于第一峰值高度閾值且對應的傾斜角為90度時，判定所述特征峰值對應所述缺陷圖像中線狀缺陷為刀絲；

當所述特征峰值大于第二峰值高度閾值且小于等于第一峰值高度閾值且對應的傾斜角為90度時，判定所述特征峰值對應所述缺陷圖像中線狀缺陷為串墨；

當所述特征峰值對應的傾斜角在預設傾角閾值范圍內，判定所述特征峰值對應所述缺陷圖像中線狀缺陷為起皺。

3.根據權利要求1所述的一種印制品線狀缺陷檢測方法，其特征在于，對目標圖像進行圖像變換，包括：

將目標圖像轉換為二維矩陣f(x,y)；

對所述二維矩陣f(x,y)中任一直線L做線積分，轉換成對應的特征值g(θ,z)：

L:ax+by+c＝0

g(θ,z)＝∫Lf(x,y)ds

式中，L為直線，ds為沿直線的單位長度，a、b、c為常量，(x,y)為X-Y平面中的點，θ＝-arctan(a/b)為所述直線的傾斜角，z＝-c/a為在X軸上的截距；

其中，所述目標圖像對應的特征圖像由所述特征值組成。

4.根據權利要求1所述的一種印制品線狀缺陷檢測方法，其特征在于，所述分別對所述模板圖像RGB通道卷積結果和所述缺陷圖像RGB通道卷積結果進行二值化，確定目標圖像，包括：

根據預設閾值分別生成所述模板圖像RGB通道卷積結果和所述缺陷圖像RGB通道卷積結果中每個元素的判斷結果，確定所述模板圖像RGB通道二值化結果和所述缺陷圖像RGB通道二值化結果；

通過對所述模板圖像RGB通道二值化結果的邏輯或運算，確定所述第一方向二值模板圖像和所述第二方向二值模板圖像；

通過對所述缺陷圖像RGB通道二值化結果的邏輯或運算，確定所述第一方向二值缺陷圖像和所述第二方向二值缺陷圖像。

5.根據權利要求4所述的一種印制品線狀缺陷檢測方法，其特征在于，根據預設閾值分別對所述模板圖像RGB通道卷積結果和所述缺陷圖像RGB通道卷積結果中每個元素進行判斷，包括：

當每個通道的每個元素第一方向，若所述元素大于所述預設閾值時，確定第一方向二值化結果為1；若所述元素小于等于所述預設閾值時，確定第一方向二值化結果為0；

當每個通道的每個元素第二方向，若所述元素小于所述預設閾值的相反值時，確定第二方向二值化結果為1；若所述元素大于等于所述預設閾值的相反值時，確定第二方向二值化結果為0；

確定所述模板圖像RGB通道二值化結果，所述模板圖像RGB通道二值化結果包括所述模板圖像RGB通道的第一方向二值化結果和第二方向二值化結果；

確定所述缺陷圖像RGB通道二值化結果，所述缺陷圖像RGB通道二值化結果包括所述缺陷圖像RGB通道的第一方向二值化結果和第二方向二值化結果。