[發(fā)明專利]一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011584875.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113189395A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊曉金;楊鳴謙;任彬;陳靜;童思維 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢信測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R19/25 | 分類號(hào): | G01R19/25 |
| 代理公司: | 武漢開(kāi)元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104 | 代理人: | 俞鴻;劉代樂(lè) |
| 地址: | 430034 湖北省武漢市硚*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多路復(fù)用 電壓 測(cè)試 電路 | ||
1.一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:包括多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)、多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)、放大器(6)、MCU(9)和若干個(gè)輸入端子,所述多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)和多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)均包括并聯(lián)設(shè)置的若干個(gè)開(kāi)關(guān),且若干個(gè)所述開(kāi)關(guān)之間并聯(lián)設(shè)置,第i個(gè)所述輸出端子的第二端同時(shí)連接至多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)的第i個(gè)開(kāi)關(guān)和多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)的第i-1個(gè)開(kāi)關(guān),所述輸出端子的第一端用于連接上一個(gè)樣品單體的輸出端和下一個(gè)樣品單體的輸入端,所述多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)、多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)的輸出端通過(guò)放大器(6)與MCU(9)的采集信號(hào)輸入端連接,所述MCU(9)的控制信號(hào)輸出端與多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)、多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)中每個(gè)開(kāi)關(guān)的控制信號(hào)輸入端連接,i為1~n中任意值,n為串聯(lián)的待測(cè)試樣品單體數(shù)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:還包括若干個(gè)分壓器(2),所述分壓器(2)的第一固定端連接輸入端子,滑變端連接至多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)的第i個(gè)開(kāi)關(guān)和多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)的第i-1個(gè)開(kāi)關(guān),第二固定端接地。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:還包括一個(gè)信號(hào)采集板(8)和若干個(gè)結(jié)構(gòu)相同的多路復(fù)用板(2),所述MCU(9)集成于信號(hào)采集板(8)上,所述分壓器(2)、多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)、多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)和放大器(6)集成于多路復(fù)用板(2)上,所述多路復(fù)用板(2)通過(guò)輸入端子(12)與樣品連接,所述多路復(fù)用板(2)通信號(hào)采集板輸入端子(13)與信號(hào)采集板(8)連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:相鄰的所述多路復(fù)用板(2)之間通過(guò)級(jí)聯(lián)跳線(16)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:多個(gè)所述多路復(fù)用板(2)之間采用層級(jí)布置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:所述多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)的輸出端與放大器(6)的反相信號(hào)輸入端連接,所述多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)的輸出端與放大器(6)的正相信號(hào)輸入端連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:還包括藍(lán)牙模塊(10)和上位機(jī)(11),所述藍(lán)牙模塊(10)和MCU(9)集成于一個(gè)信號(hào)采集板(8)上,所述MCU(9)的數(shù)據(jù)輸出端通過(guò)藍(lán)牙模塊(10)與上位機(jī)(11)連接,所述MCU(9)的控制信號(hào)輸出端通過(guò)藍(lán)牙模塊(10)與多路模擬開(kāi)關(guān)組a(4)、多路模擬開(kāi)關(guān)組b(5)中每個(gè)開(kāi)關(guān)的控制信號(hào)輸入端連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:還包括微調(diào)分壓器(7),所述微調(diào)分壓器(7)設(shè)置于放大器(6)與MCU(9)的采集信號(hào)輸入端之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:層級(jí)布置的若干塊多路復(fù)用板(2)通過(guò)貫穿于多路復(fù)用板(2)四角的立柱固定,所述信號(hào)采集板(8)布置于最頂層。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種多路復(fù)用電壓降測(cè)試電路,其特征在于:所述輸入端子(12)設(shè)置于多路復(fù)用板(2)一側(cè),所述信號(hào)采集板輸入端子(13)設(shè)置于信號(hào)采集板(8)同側(cè)對(duì)應(yīng)位置處,所述級(jí)聯(lián)跳線(16)設(shè)置于多路復(fù)用板(2)上輸入端子(12)的相鄰側(cè)。
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