[發明專利]芯片檢測分選機及其檢測方法

在審

• 申請號: 202011581648.4
• 申請日: 2020-12-28
• 公開（公告）號: CN112657855A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 汪杰;許洪祎
• 申請（專利權）人: 無錫市寶御達機械設備制造有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/344;B07C5/38;B07C5/36
• 代理公司: 北京棘龍知識產權代理有限公司 11740
• 代理人: 戴麗偉

1.一種芯片檢測分選機，其特征在于：包括基板(100)；所述基板(100)上設置取料機構(200)、入料機構(300)、測試機構(400)和預定位機構(500)；

所述取料機構(200)包括第一電缸(202)；所述第一電缸(202)固定在第一模組安裝板(203)上；所述第一模組安裝板(203)的兩側分別設置在支撐柱(201)上；所述第一電缸(202)包括第一滾珠絲杠；所述第一滾珠絲杠的絲母連接吸嘴工裝(208)；

所述入料機構(300)包括料盤夾爪機構；所述料盤夾爪機構包括料盤(325)；所述取料吸嘴(208)位于所述料盤(325)之上；所述料盤(325)的兩側設置夾爪(326)；所述夾爪(326)連接第四氣缸(344)的活塞桿；所述料盤(325)的底部抵接頂頭(343)；所述頂頭(343)連接第五氣缸(351)的活塞桿；所述第四氣缸(344)的缸體安裝在夾爪基板(331)上；所述夾爪基板(331)固定在絲母安裝塊(330)上；所述絲母安裝塊(330)和第三滾珠絲杠(332)的絲母連接；所述第三滾珠絲杠(332)的一端連接第一驅動模塊，所述第一驅動模塊驅動所述第三滾珠絲杠(332)旋轉；

所述測試機構(400)包括測試座(411)；所述測試座(411)包括芯片測試板(4111)；所述測試座(411)上方設置可調光源燈箱(410)；

所述預定位機構(500)包括定位板(502)和第四電缸(505)；所述定位板(502)開設多個芯片定位槽(501)；所述芯片測試板(4111)和所述定位板(502)在同一水平面；所述定位板(502)的底部安裝震動電機(507)；所述定位板(502)通過支承部件固定在滑板(504)上；所述滑板(504)固定在第一滑塊(506)上；所述第四電缸(505)包括第五滾珠絲杠；所述第五滾珠絲杠的絲母連接所述第一滑塊(506)，且所述第三滾珠絲杠(332)長度所在直線和所述第五滾珠絲杠的長度所在直線相互垂直。

2.根據權利要求1所述的芯片檢測分選機，其特征在于：所述吸嘴工裝(208)包括第一升降機構；第一升降機構包括第一導軌安裝板(218)；所述第一導軌安裝板(218)的背面連接所述第一滾珠絲杠的絲母；所述第一導軌安裝板(218)的正面安裝一組直線導軌；所述直線導軌嵌合滑塊；所述一組直線導軌)之間安裝直線模組；第一升降機構還包括滑塊安裝板(228)；所述滑塊安裝板(228)固定在所述滑塊之上；所述直線模組和所述滑塊安裝板(228)機械連接；所述滑塊安裝板(228)之上固定吸嘴夾板(212)；所述吸嘴夾板(212)上安裝多個分體式吸嘴模塊；所述分體式吸嘴模塊包括相互連通的第一吸嘴(209)、導向通氣軸(210)和第一氣接頭(214)；所述導向通氣軸(210)的一端連接所述第一吸嘴(209)，所述導向通氣軸(210)的另一端連接第一氣接頭(214)。

3.根據權利要求1所述的芯片檢測分選機，其特征在于：所述第一驅動模塊包括第二伺服電機(334)、第二同步帶(335)、第三同步帶輪(336)和第四同步帶輪(337)；所述第二伺服電機(334)的輸出軸穿過所述第四同步帶輪(337)，所述第二同步帶(335)張緊在所述第三同步帶輪(336)和所述述第四同步帶輪(337)上；所述第三同步帶輪(336)套在所述第三滾珠絲杠(332)上。

4.根據權利要求1所述的芯片檢測分選機，其特征在于：所述入料機構(300)還包括入料導軌；所述入料導軌包括一組相互平行的第一導軌(305)；所述第一導軌(305)之上設置至少一組料盤限位組件；一組所述第一導軌(305)之間設置至少一組第二升降機構；所述第二升降機構包括第二驅動模塊和第二滾珠絲杠(313)；所述第二滾珠絲杠(313)的絲母和絲母升降板(312)連接；所述絲母升降板(312)通過第一導向軸(310)連接托盤板(315)；一組所述托盤板(315)之間設置所述料盤夾爪機構；所述托盤板(315)可托住所述料盤(325)。