[發明專利]一種教學測評診斷分析系統

在審

• 申請號: 202011573561.2
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112686526A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 余月清;蔡小春;王民偉;王惜騫;汪培
• 申請（專利權）人: 貴州樹精英教育科技有限責任公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/20;G06F16/9538;G06F17/18
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616
• 代理人: 李朦

本發明公開了一種教學測評診斷分析系統，包括登錄系統、存儲系統、測試系統、診斷系統以及管理系統；所述存儲系統存儲登錄系統、測試系統、診斷系統以及管理系統的數據；所述登錄系統用于用戶登錄個人賬戶；所述測試系統為學生下發并批改習題；所述診斷模塊對學生的學習成果以及教師教學成果和方法做出評價；所述管理系統用于管理員添加和設置教學質量診斷系統中的學校基本參數、用戶基本信息、系統參數、管理員信息、評估體系信息；本發明能夠有效幫助學生了解自身學習情況，幫助教師了解學生學習情況以及自己的教學成果，能夠準確評判教師的教學水平以及對今后教學方法的改進做出指導。

技術領域

本發明涉及教育質量評價技術領域，具體是指一種教學測評診斷分析系統。

背景技術

由于義務教育的普及，教師與學生的比例比越來越大，教師要一一了解學生的學習情況，難度非常大。

現有技術中教師對學生的評價主要通過隨堂點名考勤、隨堂測驗等方式，既費時又繁瑣。而且很難及時檢驗、考核、掌握每個學生的學習狀況、提供學生平時學習成績評定。傳統的教學質量評估系統在對學生進行評價時，常常是通過對學生的總成績進行分析，或者是對某一科目的總成績進行分析。這種分析方式雖然能夠看出學生在哪些科目上的知識比較薄弱，但是不能夠針對學生薄弱科目進行更深入的分析，找出學生欠缺的知識點，這種分析方式還遠遠不能夠達到指導學生學習的目的。而傳統教學質量診斷系統對教師的考核只能單純地通過學生的評價來進行，評價結果收到學生的主觀因素的影響非常大，因此評價結果不夠合理，不能對教師的教學方式的改進做出指導。

所以，一種教學測評診斷分析系統成為人們亟待解決的問題。

發明內容

本發明要解決的技術問題是現有技術中教師對學生的測評不夠及時與準確，缺少對教師教學成果進行評價診斷的系統。

為解決上述技術問題，本發明提供的技術方案為：一種教學測評診斷分析系統，包括登錄系統、存儲系統、測試系統、診斷系統以及管理系統；

所述存儲系統存儲登錄系統、測試系統、診斷系統以及管理系統的數據；所述登錄系統用于用戶登錄個人賬戶；

所述測試系統包括：試題管理模塊、試題批改模塊、成績輸入模塊、成績查詢模塊；所述試題管理模塊對存儲的試題整合并形成若干套完整的試卷，所述試題批改模塊對學生的答題結果進行批改并生成成績單，所述成績輸入模塊將考試成績輸入診斷系統；所述成績查詢模塊用于查詢成績分析的結果以及將成績分析的結果輸出給診斷系統；

所述診斷模塊包括評價錄入系統、診斷分析系統以及診斷輸出系統，所述評價錄入系統錄入專家對學生考試成績的分析以及根據學生成績對教師教學成果做出對的專業評價，所述診斷分析系統根據學生成績做出成績等級劃分，所述診斷輸出系統將專家評價以及成績等級劃分相結合生成統計圖表；

所述管理系統用于管理員添加和設置教學質量診斷系統中的學校基本參數、用戶基本信息、系統參數、管理員信息、評估體系信息。

進一步的，所述試題管理模塊內還設有試卷信息統計模塊，所述試卷信息統計模塊統計試卷考察范圍、試題分值以及試題的難度系數

進一步的，所述試題批改模塊內還設有得分率統計模塊，所述得分率統計模塊統計學生個體的得分情況。

進一步的，所述成績等級包括：優、良、中等、及格以及不及格。

進一步的，所述統計圖表包括：班級統計表以及教師所教科目統計表，所述班級統計表統計分析班級各分數段、最高分、最低分、平均分、優率、良率、優良率以及合格率；所述科目統計表分析教師所教班級中各班的平均分、優率、良率、及格率、最高分、最低分，以及所教班級總體平均分、優率、良率、及格率、最高分以及最低分。