[發明專利]一種教學測評診斷分析系統

在審

• 申請號: 202011573561.2
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112686526A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 余月清;蔡小春;王民偉;王惜騫;汪培
• 申請（專利權）人: 貴州樹精英教育科技有限責任公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/20;G06F16/9538;G06F17/18
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616
• 代理人: 李朦

1.一種教學測評診斷分析系統，其特征在于：包括登錄系統(1)、存儲系統(2)、測試系統(3)、診斷系統(4)以及管理系統(5)；

所述存儲系統(2)存儲登錄系統(1)、測試系統(3)、診斷系統(4)以及管理系統(5)的數據；所述登錄系統(1)用于用戶登錄個人賬戶；

所述測試系統(3)包括：試題管理模塊(6)、試題批改模塊(7)、成績輸入模塊(8)、成績查詢模塊(9)；所述試題管理模塊(6)對存儲的試題整合并形成若干套完整的試卷，所述試題批改模塊(7)對學生的答題結果進行批改并生成成績單，所述成績輸入模塊(8)將考試成績輸入診斷系統(4)；所述成績查詢模塊(9)用于查詢成績分析的結果以及將成績分析的結果輸出給診斷系統(4)；

所述診斷模塊包括評價錄入系統(10)、診斷分析系統(11)以及診斷輸出系統(12)，所述評價錄入系統(10)錄入專家對學生考試成績的分析以及根據學生成績對教師教學成果做出對的專業評價，所述診斷分析系統(11)根據學生成績做出成績等級劃分，所述診斷輸出系統(12)將專家評價以及成績等級劃分相結合生成統計圖表；

所述管理系統(5)用于管理員添加和設置教學質量診斷系統(4)中的學校基本參數、用戶基本信息、系統參數、管理員信息、評估體系信息。

2.根據權利要求1所述的一種教學測評診斷分析系統，其特征在于：所述試題管理模塊(6)內還設有試卷信息統計模塊(13)，所述試卷信息統計模塊(13)統計試卷考察范圍、試題分值以及試題的難度系數。

3.根據權利要求2所述的一種教學測評診斷分析系統，其特征在于：所述試題批改模塊(7)內還設有得分率統計模塊(14)，所述得分率統計模塊(14)統計學生個體的得分情況。

4.根據權利要求3所述的一種教學測評診斷分析系統，其特征在于：所述成績等級包括：優、良、中等、及格以及不及格。

5.根據權利要求4所述的一種教學測評診斷分析系統，其特征在于：所述統計圖表包括：班級統計表以及教師所教科目統計表，所述班級統計表統計分析班級各分數段、最高分、最低分、平均分、優率、良率、優良率以及合格率；所述科目統計表分析教師所教班級中各班的平均分、優率、良率、及格率、最高分、最低分，以及所教班級總體平均分、優率、良率、及格率、最高分以及最低分。