[發(fā)明專利]MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011567716.1 | 申請日: | 2020-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN114695567A | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王艷春 | 申請(專利權(quán))人: | 比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/06 |
| 代理公司: | 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 張美君 |
| 地址: | 518119 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | mos 型肖特基 二極管 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明提供了一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu),MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)包括設(shè)置于陰極背面金屬層上的N型襯底層;位于N型襯底層上的N型外延層;內(nèi)嵌在N型外延層上表面的多個(gè)MOS區(qū)域;多個(gè)MOS區(qū)域沿第一方向分布;覆蓋在N型外延層和多個(gè)MOS區(qū)域上的金屬陽極接觸層;MOS區(qū)域的頂部在第一方向的第一寬度小于MOS區(qū)域的底部在第一方向的第二寬度,MOS區(qū)域的頂部靠近金屬陽極接觸層。能夠在增加肖特基區(qū)域?qū)挾鹊耐瑫r(shí),增大了MOS區(qū)域的底部寬度,實(shí)現(xiàn)降低高溫漏電流和導(dǎo)通壓降,提高了MOS型肖特基二極管的耐壓和開關(guān)速度,且在對MOS型肖特基二極管施加反向電壓時(shí),各MOS區(qū)域產(chǎn)生的耗盡層仍然能夠連接。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中MOS型肖特基二極管的結(jié)構(gòu)在需要降低MOS型肖特基二極管的導(dǎo)通壓降時(shí),采用的技術(shù)為增加MOS型肖特基二極管的肖特基區(qū)域?qū)挾取?/p>
現(xiàn)有技術(shù)中降低MOS型肖特基二極管的導(dǎo)通壓降的方式還存在以下缺陷:在增加肖特基區(qū)域的寬度后,MOS區(qū)域的寬度也會隨之變窄,而MOS區(qū)域?qū)挾茸冋瓡斐蒑OS型肖特基二極管的耐壓降低和高溫漏電流增大的問題出現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題,本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu),以解決現(xiàn)有技術(shù)中降低MOS型肖特基二極管的導(dǎo)通壓降的方式導(dǎo)致耐壓降低和高溫漏電流增大的問題。
為了解決上述問題,本發(fā)明實(shí)施例公開了一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu),包括:
設(shè)置于陰極背面金屬層上的N型襯底層;
位于所述N型襯底層上的N型外延層;
內(nèi)嵌在所述N型外延層上表面的多個(gè)MOS區(qū)域;所述多個(gè)MOS區(qū)域沿第一方向分布;
覆蓋在所述N型外延層和所述多個(gè)MOS區(qū)域上的金屬陽極接觸層;所述MOS區(qū)域的頂部在所述第一方向的第一寬度小于所述MOS區(qū)域的底部在所述第一方向的第二寬度,所述MOS區(qū)域的頂部靠近所述金屬陽極接觸層,所述第一方向?yàn)榇怪庇谒鯪型外延層厚度的方向。
本發(fā)明實(shí)施例包括以下優(yōu)點(diǎn):設(shè)置MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)包括:設(shè)置于陰極背面金屬層上的N型襯底層;位于N型襯底層上的N型外延層;內(nèi)嵌在N型外延層上表面的多個(gè)MOS區(qū)域;多個(gè)MOS區(qū)域沿第一方向分布;覆蓋在N型外延層和多個(gè)MOS區(qū)域上的金屬陽極接觸層;MOS區(qū)域的頂部在第一方向的第一寬度小于MOS區(qū)域的底部在第一方向的第二寬度,MOS區(qū)域的頂部靠近金屬陽極接觸層,所述第一方向?yàn)榇怪庇谒鯪型外延層厚度的方向。由于MOS區(qū)域的頂部在第一方向的第一寬度小于MOS區(qū)域的底部在第一方向的第二寬度,從而在增加肖特基區(qū)域?qū)挾鹊耐瑫r(shí),增大了MOS區(qū)域的底部寬度,實(shí)現(xiàn)降低高溫漏電流和導(dǎo)通壓降,提高了MOS型肖特基二極管的耐壓和開關(guān)速度,且在對MOS型肖特基二極管施加反向電壓時(shí),各MOS區(qū)域產(chǎn)生的耗盡層仍然能夠連接。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明的另一種MOS型肖特基二極管結(jié)構(gòu)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明的一種具有條形MOS區(qū)域的MOS型肖特基二極管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本發(fā)明的一種具有柵欄形MOS區(qū)域的MOS型肖特基二極管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是本發(fā)明實(shí)施例的一種具有圓形MOS區(qū)域的MOS型肖特基二極管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是本發(fā)明實(shí)施例的一種具有方形MOS區(qū)域的MOS型肖特基二極管的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂,下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
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H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
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