[發(fā)明專利]多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011566479.7
• 申請(qǐng)日: 2020-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN112666497A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳飛勝;張鎮(zhèn)正;張翼;黃望遠(yuǎn);梁承貴;張志達(dá)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 湖南高至科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/58
• 分類號(hào): G01R31/58
• 代理公司: 長(zhǎng)沙國(guó)科天河知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 43225
• 代理人: 邱軼

本申請(qǐng)涉及一種多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備。所述測(cè)試包括：測(cè)試終端、檢測(cè)設(shè)備和導(dǎo)通測(cè)試儀；導(dǎo)通測(cè)試儀包括：多個(gè)接口測(cè)試卡、以太網(wǎng)交換機(jī)以及電源模塊；多個(gè)接口測(cè)試卡包括至少一個(gè)主接口測(cè)試卡，其他接口測(cè)試卡與主接口測(cè)試卡通過級(jí)聯(lián)方式連接，其他接口測(cè)試卡的輸入通道與測(cè)試工裝對(duì)應(yīng)；檢測(cè)設(shè)備的紅表筆和黑表筆連接主接口測(cè)試卡的輸出通道；多個(gè)接口測(cè)試卡均通過電源模塊供電；以太網(wǎng)交換機(jī)通過以太網(wǎng)與測(cè)試終端以及多個(gè)接口測(cè)試卡連接。采用本方法能夠?qū)崿F(xiàn)高效率以及多用途的導(dǎo)通絕緣測(cè)試。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電力電子技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備。

背景技術(shù)

隨著軍工電子設(shè)備自動(dòng)化程度的不斷提高，電子設(shè)備接口電路多樣化，電纜網(wǎng)的復(fù)雜程度不斷增加，這就要求測(cè)試設(shè)備具有更多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)，具備高擴(kuò)展性和通用化設(shè)計(jì)。

目前電纜網(wǎng)測(cè)試設(shè)備主要分為兩種，一種是設(shè)計(jì)專用的繼電器卡，利用恒流源或恒壓源同時(shí)加入測(cè)試點(diǎn)兩端，通過采集卡測(cè)試兩端電壓，進(jìn)而計(jì)算出電纜的導(dǎo)通阻值(桂繼勇，沈楠.便攜式電纜通斷測(cè)試儀設(shè)計(jì)：電子世界，2019)、(韓琦文，趙轉(zhuǎn)萍，梁爽.某型號(hào)導(dǎo)彈電纜網(wǎng)導(dǎo)通絕緣性能檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)：機(jī)電工程，2016)。這種方法集成度高，缺點(diǎn)是可擴(kuò)展性差、測(cè)試精度低、無法滿足復(fù)雜型號(hào)的電纜網(wǎng)測(cè)試。另一種是采用電源模塊、開關(guān)和指示燈進(jìn)行有源測(cè)試(邵林林，喻波，吳曉鳴，李艷麗，程攀.一種電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置.中國(guó)專利：CN205427089U，2016-08-03)，這種有源測(cè)試方法適用于簡(jiǎn)單電纜網(wǎng)測(cè)試，不具備自動(dòng)化測(cè)試功能，測(cè)試誤差大，無法適用于多連接器的復(fù)雜電纜網(wǎng)測(cè)試。

而針對(duì)于設(shè)備電氣接口的性能測(cè)試還處于使用傳統(tǒng)人工測(cè)量方式，通過萬用表、絕緣測(cè)試儀等通用化測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。依靠人工測(cè)量方式極大可能會(huì)存在測(cè)試覆蓋不全、被測(cè)設(shè)備燒毀等問題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種能夠解決目前多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試效率低時(shí)的多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備。

一種多用途導(dǎo)通絕緣測(cè)試設(shè)備，所述測(cè)試包括：

測(cè)試終端、檢測(cè)設(shè)備和導(dǎo)通測(cè)試儀；

所述導(dǎo)通測(cè)試儀通過以太網(wǎng)與所述測(cè)試終端連接；

所述測(cè)試終端與所述檢測(cè)設(shè)備通過接口連接；

所述導(dǎo)通測(cè)試儀通過測(cè)試工裝與電纜網(wǎng)的連接器或電子設(shè)備的連接器對(duì)應(yīng)連接；

所述檢測(cè)設(shè)備的紅表筆和黑表筆連接所述導(dǎo)通測(cè)試儀；

所述導(dǎo)通測(cè)試儀包括：多個(gè)接口測(cè)試卡、以太網(wǎng)交換機(jī)以及電源模塊；

所述多個(gè)接口測(cè)試卡包括至少一個(gè)主接口測(cè)試卡，其他接口測(cè)試卡與所述主接口測(cè)試卡通過級(jí)聯(lián)方式連接，所述其他接口測(cè)試卡的輸入通道與所述測(cè)試工裝對(duì)應(yīng)；

所述檢測(cè)設(shè)備的紅表筆和黑表筆連接所述主接口測(cè)試卡的輸出通道；

所述多個(gè)接口測(cè)試卡均通過所述電源模塊供電；所述以太網(wǎng)交換機(jī)通過以太網(wǎng)與所述測(cè)試終端以及所述多個(gè)接口測(cè)試卡連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括：所述接口測(cè)試卡包括：兩路測(cè)量通道、MCU以及存儲(chǔ)模塊；所述測(cè)量通道包括：測(cè)試連接器、繼電器矩陣以及驅(qū)動(dòng)隔離模塊；所述測(cè)試連接器、繼電器矩陣以及驅(qū)動(dòng)隔離模塊依次連接，所述驅(qū)動(dòng)隔離模塊與所述MCU連接，所述MCU與所述存儲(chǔ)模塊連接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括：所述測(cè)量通道還包括測(cè)試接口；所述測(cè)試接口包括繼電器矩陣，所述繼電器矩陣由多個(gè)獨(dú)立繼電器組成；所述多個(gè)獨(dú)立繼電器的公共端分別連接所述測(cè)試連接器的輸入通道。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括：所述測(cè)試連接器為矩形連接器。