[發明專利]觸控基板測試裝置及觸控基板測試方法

在審

• 申請號: 202011565648.5
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112558816A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 于朝陽
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 邊曉紅

1.一種觸控基板測試裝置，其特征在于，包括至少四個測試極板(31)、電容測試模塊(33)、輔助電容(35)、控制模塊(37)和測試電路，至少四個所述測試極板(31)包括第一測試極板(31a)、第二測試極板(31b)、第三測試極板(31c)和第四測試極板(31d)，所述第一測試極板(31a)、所述第二測試極板(31b)、所述第三測試極板(31c)和所述第四測試極板(31d)以2*2方式矩陣排布，所述測試電路包括第一開關元件(39)、第二開關元件(40)、第三開關元件(41)和第四開關元件(42)，所述第一開關元件(39)連接于所述第一測試極板(31a)和所述輔助電容(35)之間，所述第二開關元件(40)連接于所述第二測試極板(31b)和所述電容測試模塊(33)之間，所述第三開關元件(41)連接于所述第三測試極板(31c)和所述電容測試模塊(33)之間，所述第四開關元件(42)連接于所述第四測試極板(31d)和所述輔助電容(35)之間，所述控制模塊(37)用于控制所述第一開關元件(39)、所述第二開關元件(40)、所述第三開關元件(41)和所述第四開關元件(42)的開與關，所述電容測試模塊(33)包括電源和電容測量器件，所述電容測試模塊(33)分別連接于所述輔助電容(35)和所述控制模塊(37)。

2.如權利要求1所述的觸控基板測試裝置，其特征在于，所述第一開關元件(39)、所述第二開關元件(40)、所述第三開關元件(41)和所述第四開關元件(42)為三極管，所述第一開關元件(39)、所述第二開關元件(40)、所述第三開關元件(41)和所述第四開關元件(42)的柵極連接于所述控制模塊(37)，所述控制模塊(37)分別向所述第一開關元件(39)、所述第二開關元件(40)、所述第三開關元件(41)和所述第四開關元件(42)的柵極輸入控制信號以控制所述第一開關元件(39)、所述第二開關元件(40)、所述第三開關元件(41)和所述第四開關元件(42)的開與關，所述第一開關元件(39)的源極和漏極分別連接于所述第一測試極板(31a)和所述輔助電容(35)，所述第二開關元件(40)的柵極和漏極分別連接于所述第二測試極板(31b)和所述電容測試模塊(33)，所述第三開關元件(41)的柵極和漏極分別連接于所述第三測試極板(31c)和所述電容測試模塊(33)，所述第四開關元件(42)的柵極和漏極分別連接于所述第四測試極板(31d)和所述輔助電容(35)。

3.一種觸控基板測試裝置，其特征在于，包括至少兩個測試極板(31)、電容測試模塊(33)、輔助電容(35)，所述至少兩個測試極板(31)包括第一測試極板(31a)和第二測試極板(31b)，所述第一測試極板(31a)、所述第二測試極板(31b)相鄰同行設置，所述電容測試模塊(33)包括電源和電容測量器件，所述第一測試極板(31a)連接于所述輔助電容(35)，所述第二測試極板(31b)連接于所述電容測試模塊(33)，所述電容測試模塊(33)連接于所述輔助電容(35)。

4.一種觸控基板測試裝置，其特征在于，包括至少兩個測試極板(31)、電容測試模塊(33)、輔助電容(35)，所述至少兩個測試極板(31)包括第一測試極板(31a)和第三測試極板(31c)，所述第一測試極板(31a)、所述第三測試極板(31c)相鄰同列設置，所述電容測試模塊(33)包括電源和電容測量器件，所述第一測試極板(31a)連接于所述輔助電容(35)，所述第三測試極板(31c)連接于所述電容測試模塊(33)，所述電容測試模塊(33)連接于所述輔助電容(35)。

5.如權利要求1或4所述的觸控基板測試裝置，其特征在于，所述輔助電容(35)的電容值遠大于待測觸控基板的位于同一列的相鄰兩個觸控電極(11)之間的電容值。