[發(fā)明專利]觸控基板測試裝置及觸控基板測試方法

在審

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• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112558816A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于朝陽
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山龍騰光電股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 上海波拓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31264
• 代理人: 邊曉紅

本發(fā)明提供一種觸控基板測試裝置及觸控基板測試方法，該觸控基板測試裝置包括測試極板、電容測試模塊、輔助電容、控制模塊和測試電路，第一、第二、第三和第四測試極板以2*2方式矩陣排布，第一開關(guān)元件連接于第一測試極板和輔助電容之間，第二開關(guān)元件連接于第二測試極板和電容測試模塊之間，第三開關(guān)元件連接于第三測試極板和電容測試模塊之間，第四開關(guān)元件連接于第四測試極板和輔助電容之間，控制模塊用于控制各開關(guān)元件的開關(guān)，電容測試模塊包括電源和電容測量器件，電容測試模塊分別連接于輔助電容和控制模塊。在本觸控基板測試裝置和觸控基板測試方法中，通過測試極板和電路的設(shè)置，可以快速、方便地測試觸控基板是否存在不良。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸控顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種觸控基板測試裝置及觸控基板測試方法。

背景技術(shù)

液晶顯示面板具有畫質(zhì)好、體積小、重量輕、低驅(qū)動電壓、低功耗、無輻射和制造成本相對較低的優(yōu)點(diǎn)，在平板顯示領(lǐng)域占主導(dǎo)地位。隨著顯示技術(shù)的不斷進(jìn)步，觸控裝置已經(jīng)逐漸遍及人們的生活中。目前，一般采用氧化銦錫(Indium Tin Oxides，ITO)透明導(dǎo)電膜作為觸控裝置的觸控電極。由于近年來液晶顯示面板技術(shù)的成熟發(fā)展，將觸控技術(shù)結(jié)合于液晶顯示面板逐漸成為一種趨勢。

在觸控顯示面板的生產(chǎn)過程中，需要檢測是否有不良。目前，一般通過Cell點(diǎn)燈檢知觸控基板是否存在Open(即接觸不良)，但這種檢測方式無法檢測觸控基板是否存在Short(即短路)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種可快速檢測觸控基板不良的觸控基板測試裝置及觸控基板測試方法。

本發(fā)明提供一種觸控基板測試裝置，包括至少四個測試極板、電容測試模塊、輔助電容、控制模塊和測試電路，至少四個所述測試極板包括第一測試極板、第二測試極板、第三測試極板和第四測試極板，所述第一測試極板、所述第二測試極板、所述第三測試極板和所述第四測試極板以2*2方式矩陣排布，所述測試電路包括第一開關(guān)元件、第二開關(guān)元件、第三開關(guān)元件和第四開關(guān)元件，所述第一開關(guān)元件連接于所述第一測試極板和所述輔助電容之間，所述第二開關(guān)元件連接于所述第二測試極板和所述電容測試模塊之間，所述第三開關(guān)元件連接于所述第三測試極板和所述電容測試模塊之間，所述第四開關(guān)元件連接于所述第四測試極板和所述輔助電容之間，所述控制模塊用于控制所述第一開關(guān)元件、所述第二開關(guān)元件、所述第三開關(guān)元件和所述第四開關(guān)元件的開與關(guān)，所述電容測試模塊包括電源和電容測量器件，所述電容測試模塊分別連接于所述輔助電容和所述控制模塊。

在其中一實(shí)施例中，所述第一開關(guān)元件、所述第二開關(guān)元件、所述第三開關(guān)元件和所述第四開關(guān)元件為三極管，所述第一開關(guān)元件、所述第二開關(guān)元件、所述第三開關(guān)元件和所述第四開關(guān)元件的柵極連接于所述控制模塊，所述控制模塊用于分別向所述第一開關(guān)元件、所述第二開關(guān)元件、所述第三開關(guān)元件和所述第四開關(guān)元件的柵極輸入控制信號以控制所述第一開關(guān)元件、所述第二開關(guān)元件、所述第三開關(guān)元件和所述第四開關(guān)元件的開與關(guān)，所述第一開關(guān)元件的源極和漏極分別連接于所述第一測試極板和所述輔助電容，所述第二開關(guān)元件的柵極和漏極分別連接于所述第二測試極板和所述電容測試模塊，所述第三開關(guān)元件的柵極和漏極分別連接于所述第三測試極板和所述電容測試模塊，所述第四開關(guān)元件的柵極和漏極分別連接于所述第四測試極板和所述輔助電容。

本發(fā)明還提供另一種觸控基板測試裝置，包括至少兩個測試極板、電容測試模塊、輔助電容，所述至少兩個測試極板包括第一測試極板和第二測試極板，所述第一測試極板、所述第二測試極板相鄰?fù)性O(shè)置，所述電容測試模塊包括電源和電容測量器件，所述第一測試極板連接于所述輔助電容，所述第二測試極板連接于所述電容測試模塊，所述電容測試模塊連接于所述輔助電容。

本發(fā)明還提供又一種觸控基板測試裝置，包括至少兩個測試極板、電容測試模塊、輔助電容，所述至少兩個測試極板包括第一測試極板和第三測試極板，所述第一測試極板、所述第三測試極板相鄰?fù)性O(shè)置，所述電容測試模塊包括電源和電容測量器件，所述第一測試極板連接于所述輔助電容，所述第三測試極板連接于所述電容測試模塊，所述電容測試模塊連接于所述輔助電容。