[發(fā)明專利]電容按鍵檢測方法、芯片和電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011561557.4 | 申請日: | 2020-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN114679166A | 公開(公告)日: | 2022-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李振剛;黃臣 | 申請(專利權(quán))人: | 比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | H03K17/975 | 分類號: | H03K17/975 |
| 代理公司: | 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 姚章國 |
| 地址: | 518119 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電容 按鍵 檢測 方法 芯片 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了一種電容按鍵檢測方法、芯片和電子設(shè)備,用于減少電容按鍵的誤判。其中,方法部分包括:獲取第一檢測值和第二檢測值,其中,第一檢測值為第一檢測模塊檢測到的值,第二檢測值為第二檢測模塊檢測到的值,第一檢測模塊的檢測端連接于電容按鍵的電極,第二檢測模塊的檢測端為懸空狀態(tài);根據(jù)第一檢測值和第二檢測值判斷電容按鍵是否被觸摸。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電容按鍵檢測方法、芯片和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
一般的家電等電子設(shè)備很多都是很少移動的,周圍的環(huán)境也很少會突變,所以傳統(tǒng)電容按鍵的設(shè)計都是基于環(huán)境不會突變,按鍵會自動適應(yīng)環(huán)境的緩慢變化,而且電子設(shè)備內(nèi)部都是橫壓供電,直接為觸摸按鍵芯片提供一個穩(wěn)定的電壓。
發(fā)明人發(fā)現(xiàn),有些電子設(shè)備卻經(jīng)常要面對環(huán)境突變的情況,比如冬天從室內(nèi)走到室外或室外回到室內(nèi),溫度發(fā)生激烈變化,而溫度的變化會影響電容按鍵的檢測數(shù)據(jù),使數(shù)據(jù)不準(zhǔn),這樣就容易造成電容按鍵的誤判。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種電容按鍵檢測方法、芯片和電子設(shè)備,以解決容易造成電容按鍵的誤判問題。
第一方面,提供了一種電容按鍵檢測方法,方法包括:
獲取第一檢測值和第二檢測值,其中,第一檢測值為第一檢測模塊檢測到的值,第二檢測值為第二檢測模塊檢測到的值,第一檢測模塊的檢測端連接于電容按鍵的電極,第二檢測模塊的檢測端為懸空狀態(tài);
根據(jù)第一檢測值和第二檢測值判斷電容按鍵是否被觸摸。
進(jìn)一步地,獲取第一檢測值和第二檢測值之前,該方法還包括如下步驟:
配置第一檢測模塊和第二檢測模塊同時進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測,以同時獲取第一檢測值和第二檢測值。
進(jìn)一步地,上述根據(jù)第一檢測值和第二檢測值判斷電容按鍵是否被觸摸,具體包括如下步驟:
計算第一檢測值與第一基線值之間的差值,得到第一差值,第一基線值為電容按鍵未被觸摸時,第一檢測模塊所檢測的值;
計算第二檢測值與第二基線值之間的差值,得到第二差值,第二基線值為電容按鍵未被觸摸時,第二檢測模塊所檢測的值;
根據(jù)第二差值修正第一差值,得到修正差值;
根據(jù)修正差值判斷電容按鍵是否被觸摸。
進(jìn)一步地,上述根據(jù)第二差值修正第一差值,得到修正差值,具體包括如下步驟:
通過如下公式修正第一差值,得到修正差值:
Xa′=Xa*(1-Xb/Db);
其中,Xa′表示修正差值,Xa表示第一差值,Xb表示第二差值,Db表示第二檢測值。
進(jìn)一步地,上述根據(jù)修正差值判斷電容按鍵是否被觸摸,具體包括如下步驟:
判斷修正差值是否大于預(yù)設(shè)閾值;
當(dāng)判斷修正差值為大于預(yù)設(shè)閾值,則判斷電容按鍵為被觸摸;
當(dāng)判斷修正差值為小于或等于預(yù)設(shè)閾值,則判斷電容按鍵為未被觸摸。
第二方面,提供一種電容按鍵檢測芯片,該檢測芯片包括芯片內(nèi)核、第一檢測模塊和第二檢測模塊;
第一檢測模塊,用于對電容按鍵進(jìn)行檢測得第一檢測值;
第二檢測模塊,用于對電容按鍵的環(huán)境進(jìn)行檢測得到第二檢測值;
芯片內(nèi)核,用于獲取第一檢測值和第二檢測模塊,并根據(jù)第一檢測值和第二檢測值判斷電容按鍵是否被觸摸。
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