[發明專利]電容按鍵檢測方法、芯片和電子設備在審
| 申請號： | 202011561557.4 | 申請日： | 2020-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN114679166A | 公開（公告）日： | 2022-06-28 |
| 發明（設計）人： | 李振剛;黃臣 | 申請（專利權）人： | 比亞迪半導體股份有限公司 |
| 主分類號： | H03K17/975 | 分類號： | H03K17/975 |
| 代理公司： | 深圳眾鼎專利商標代理事務所(普通合伙) 44325 | 代理人： | 姚章國 |
| 地址： | 518119 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電容 按鍵 檢測 方法 芯片 電子設備 | ||
1.一種電容按鍵檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取第一檢測值和第二檢測值，其中，所述第一檢測值為第一檢測模塊檢測到的值，所述第二檢測值為第二檢測模塊檢測到的值，所述第一檢測模塊的檢測端連接于電容按鍵的電極，所述第二檢測模塊的檢測端為懸空狀態；
根據所述第一檢測值和所述第二檢測值判斷所述電容按鍵是否被觸摸。
2.如權利要求1所述的電容按鍵檢測方法，其特征在于，所述獲取所述第一檢測值和第二檢測值之前，所述方法還包括：
配置所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊同時進行數據檢測，以同時獲取所述第一檢測值和第二檢測值。
3.如權利要求1所述的電容按鍵檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一檢測值和所述第二檢測值判斷所述電容按鍵是否被觸摸，包括：
計算所述第一檢測值與第一基線值之間的差值，得到第一差值，所述第一基線值為所述電容按鍵未被觸摸時，所述第一檢測模塊所檢測的值；
計算所述第二檢測值與第二基線值之間的差值，得到第二差值，所述第二基線值為所述電容按鍵未被觸摸時，所述第二檢測模塊所檢測的值；
根據所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值；
根據所述修正差值判斷所述電容按鍵是否被觸摸。
4.如權利要求3所述的電容按鍵檢測方法，其特征在于，所述根據所述修正差值判斷所述電容按鍵是否被觸摸，包括：
判斷所述修正差值是否大于預設閾值；
當判斷所述修正差值為大于所述預設閾值，則判斷所述電容按鍵為被觸摸；
當判斷所述修正差值為小于或等于所述預設閾值，則判斷所述電容按鍵為未被觸摸。
5.如權利要求3所述的電容按鍵檢測方法，其特征在于，所述根據所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值，包括：
通過如下公式修正所述第一差值，得到所述修正差值：
Xa′＝Xa*(1-Xb/Db)；
其中，Xa′表示所述修正差值，Xa表示所述第一差值，Xb表示所述第二差值，Db表示所述第二檢測值。
6.一種電容按鍵檢測芯片，其特征在于，所述檢測芯片包括芯片內核、第一檢測模塊和第二檢測模塊；
所述第一檢測模塊，用于對電容按鍵進行檢測得第一檢測值；
所述第二檢測模塊，用于對所述電容按鍵的環境進行檢測得到第二檢測值；
所述芯片內核，用于獲取所述第一檢測值和第二檢測模塊，并根據所述第一檢測值和所述第二檢測值判斷電容按鍵是否被觸摸。
7.如權利要求6所述的電容按鍵檢測芯片，其特征在于，所述芯片內核用于：
配置所述第一檢測模塊和所述第二檢測模塊同時進行數據檢測，以同時獲取所述第一檢測值和第二檢測值。
8.如權利要求6所述的電容按鍵檢測芯片，其特征在于，所述芯片內核用于：
計算所述第一檢測值與第一基線值之間的差值，得到第一差值，所述第一基線值為所述電容按鍵未被觸摸時，所述第一檢測模塊所檢測的值；
計算所述第二檢測值與第二基線值之間的差值，得到第二差值，所述第二基線值為所述電容按鍵未被觸摸時，所述第二檢測模塊所檢測的值；
根據所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值；
根據所述修正差值判斷所述電容按鍵是否被觸摸。
9.如權利要求8所述的電容按鍵檢測芯片，其特征在于，所述芯片內核用于：
判斷所述修正差值是否大于預設閾值；
當判斷所述修正差值為大于所述預設閾值，則判斷所述電容按鍵為被觸摸；
當判斷所述修正差值為小于或等于所述預設閾值，則判斷所述電容按鍵為未被觸摸。
10.一種電子設備，其特征在于，包括電容按鍵和如權利要求6-9任一項所述的電容按鍵檢測芯片。
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