[發(fā)明專利]光學(xué)裝置和光學(xué)裝置測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011561451.4
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號(hào): CN113340808B
• 公開（公告）日: 2023-10-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杉山昌樹
• 申請（專利權(quán)）人: 富士通光器件株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01N21/01
• 分類號(hào): G01N21/01;G02B27/28;G02B27/42
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 劉久亮;黃綸偉

1.一種光學(xué)裝置，該光學(xué)裝置包括：

光電路；以及

測試電路，所述測試電路與所述光電路光學(xué)連接，其中，

所述測試電路包括：

第一光柵耦合器，所述第一光柵耦合器被配置為接收測試光；

第二光柵耦合器，所述第二光柵耦合器被配置為輸出通過了所述第一光柵耦合器的所述測試光作為參考光；以及

第一分支耦合器，所述第一分支耦合器連接到所述第一光柵耦合器的輸出，并且

所述第一分支耦合器包括：

第一輸出，所述第一輸出連接到所述光電路的輸入，并被配置為將來自所述第一光柵耦合器的所述測試光分支并輸出到所述光電路，以及

第二輸出，所述第二輸出連接到所述第二光柵耦合器的輸入，并被配置為將來自所述第一光柵耦合器的所述測試光分支并輸出到所述第二光柵耦合器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裝置，其中，

所述測試電路包括連接到所述第二光柵耦合器的輸入的第二分支耦合器，并且

所述第二分支耦合器連接到所述第一分支耦合器的所述第二輸出，并被配置為將來自所述第一分支耦合器的所述測試光輸出到所述第二光柵耦合器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)裝置，其中，所述測試電路包括：

單個(gè)合路器/分路器，所述單個(gè)合路器/分路器連接在所述第一分支耦合器的所述第一輸出和所述光電路的所述輸入之間，并被配置為將來自所述第一分支耦合器的所述測試光輸出到所述光電路；以及

兩個(gè)合路器/分路器，所述兩個(gè)合路器/分路器連接在所述第一分支耦合器的所述第二輸出和所述第二光柵耦合器的所述輸入之間，并被配置為將來自所述第一分支耦合器的所述測試光輸出到所述第二光柵耦合器。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)裝置，其中，所述測試電路包括：

單個(gè)偏振旋轉(zhuǎn)器，所述單個(gè)偏振旋轉(zhuǎn)器連接在所述第一分支耦合器的所述第一輸出和所述光電路的所述輸入之間，并且被配置為對來自所述第一分支耦合器的所述測試光執(zhí)行偏振并將經(jīng)偏振的所述測試光輸出到所述光電路；以及

兩個(gè)偏振旋轉(zhuǎn)器，所述兩個(gè)偏振旋轉(zhuǎn)器連接在所述第一分支耦合器的所述第二輸出和所述第二光柵耦合器的所述輸入之間，并且被配置為對來自所述第一分支耦合器的所述測試光執(zhí)行偏振并將經(jīng)偏振的所述測試光輸出到所述第二光柵耦合器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裝置，其中，

從所述第一光柵耦合器到所述第二光柵耦合器的光波導(dǎo)的長度是從所述第一光柵耦合器到所述光電路的光波導(dǎo)的長度的兩倍。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)裝置，其中，所述測試電路包括：

所述第一光柵耦合器，所述第一光柵耦合器被配置為從所述測試電路的表面接收所述測試光；以及

所述第二光柵耦合器，所述第二光柵耦合器被配置為從所述測試電路的表面輸出所述測試光作為參考光。