[發明專利]一種雙能CT探測器、CT檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 202011553088.1
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN112730479B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 李保磊;劉念;徐圓飛;莫陽;孫翠麗;趙雷;溫子寬;魏增輝;吳凱;丁潔;劉宇;司昌楠;李華宇
• 申請（專利權）人: 北京航星機器制造有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046;G01V5/00
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所有限公司 11386
• 代理人: 吳利芳

本發明公開了一種雙能CT探測器、CT檢測系統及檢測方法，涉及CT檢測技術領域，用以解決現有技術中CT探測裝置成本高、不利于設備的推廣應用，降低成本不能保證成像精度等問題。雙能CT探測器包括：探測器陣列和射線過濾單元；所述探測器陣列的每一個陣元為一個探測器；所述探測器陣列包括：第一直線陣列和第二直線陣列；沿著射線光子信號的傳播方向，所述射線過濾單元設置在所述第一直線陣列的前面；所述射線過濾單元用于除去所述射線光子信號中的低能射線；所述第一直線陣列主要用于檢測所述射線光子信號中的高能射線；所述第二直線陣列主要用于檢測所述射線光子信號中的低能射線。本發明提供的技術方案能在降低成本的同時保證成像精度。

技術領域

本發明屬于CT檢測技術領域，特別涉及一種雙能CT探測器、CT檢測系統及檢測方法。

背景技術

在基于X射線的爆炸物檢查技術中，X射線計算機斷層掃描成像技術(簡稱“CT技術”)因其自身特有的優勢，在安全檢查領域被高度重視。在美國交通安全局(TSA,Transportation?Security?Administration)唯一認證的EDS(Explosive?DetectionSystem)型安檢設備就是CT設備，可見X射線CT技術在安全檢查領域的地位。

X射線CT安檢技術是通過對CT數據進行重建得到被掃描物體的斷層圖像，通過對斷層圖像中的特征數據進行分析，實現對被掃描物體中危險物品的識別。為了提高CT識別的精度，通常采用雙能CT成像方式，雙能成像的實現方式可以有射線源高低能快速切換，雙源成像，雙層探測器等多種模式，其中，針對安檢應用，雙層探測器模式應用最為普遍，按照高低能的排布模式，主要分為“背靠背”和“騎馬式”兩種。

上述兩種模式，需要一個低能探測器像素對應一個高能探測器像素，成本較高，不利于設備的推廣應用。

發明內容

鑒于以上分析，本發明旨在提供一種雙能CT探測器、CT檢測系統及檢測方法，用以解決現有技術中CT探測裝置成本高、不利于設備的推廣應用，降低成本不能保證成像精度等問題。

本發明的目的主要是通過以下技術方案實現的：

第一方面，本發明實施例提供了一種雙能CT探測器，包括：探測器陣列和射線過濾單元；

所述探測器陣列的每一個陣元為一個探測器；

所述探測器陣列包括：第一直線陣列和第二直線陣列；

所述射線過濾單元覆蓋所述第一直線陣列，且射線光子信號依次穿過所述射線過濾單元和所述第一直線陣列；

所述射線過濾單元用于除去所述射線光子信號中的低能射線；

所述第一直線陣列用于檢測所述射線光子信號中的高能射線；

所述第二直線陣列用于檢測所述射線光子信號中的低能射線。

進一步地，所述第一直線陣列和所述第二直線陣列相互平行且任意相鄰的所述第二直線陣列間設置有多個所述第一直線陣列或者任意相鄰的所述第一直線陣列間設置有多個所述第二直線陣列。

進一步地，所述第一直線陣列和所述第二直線陣列相互平行，且在所述低能探測器陣列上相互交替排列。

進一步地，所述CT探測器的第一檢測方向上的陣元排布密度小于所述CT探測器的第二檢測方向上的陣元排布密度；

所述第一檢測方向平行于所述第一直線陣列所在的直線和所述第二直線陣列所在的直線；

所述第二檢測方向垂直于所述第二直線陣列所在的直線。

進一步地，相鄰的所述第一直線陣列間第二直線陣列數量為1-10個；

進一步地，相鄰的所述第二直線陣列間第一直線陣列數量為1-3個。