[發明專利]一種雙能CT探測器、CT檢測系統及檢測方法

有效

• 申請號: 202011553088.1
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN112730479B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 李保磊;劉念;徐圓飛;莫陽;孫翠麗;趙雷;溫子寬;魏增輝;吳凱;丁潔;劉宇;司昌楠;李華宇
• 申請（專利權）人: 北京航星機器制造有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046;G01V5/00
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所有限公司 11386
• 代理人: 吳利芳

1.一種雙能CT探測器，其特征在于，包括：低能探測器陣列和射線過濾單元；

所述探測器陣列的每一個陣元為一個探測器；所述探測器既能接收高能射線，又能接收低能射線；

所述探測器陣列包括：第一直線陣列和第二直線陣列；

所述射線過濾單元覆蓋所述第一直線陣列，且射線光子信號依次穿過所述射線過濾單元和所述第一直線陣列；所述第一直線陣列用于檢測射線光子信號中的高能射線；

所述射線過濾單元用于除去所述射線光子信號中的低能射線；

所述第一直線陣列用于檢測所述射線光子信號中的高能射線；

所述第二直線陣列用于檢測所述射線光子信號中的低能射線；

所述CT探測器的第一檢測方向上的陣元排布密度小于所述CT探測器的第二檢測方向上的陣元排布密度，所述第一檢測方向為排方向，所述第二檢測方向為列方向。

2.根據權利要求1所述的CT探測器，其特征在于，

所述第一直線陣列和所述第二直線陣列相互平行且任意相鄰的所述第二直線陣列間設置有多個所述第一直線陣列或者任意相鄰的所述第一直線陣列間設置有多個所述第二直線陣列。

3.根據權利要求2所述的CT探測器，其特征在于，

所述第一直線陣列和所述第二直線陣列相互平行，且在所述低能探測器陣列上相互交替排列。

4.根據權利要求3所述的CT探測器，其特征在于，

所述第一檢測方向平行于所述第一直線陣列所在的直線和所述第二直線陣列所在的直線；

所述第二檢測方向垂直于所述第二直線陣列所在的直線。

5.根據權利要求2所述的CT探測器，其特征在于，

相鄰的所述第一直線陣列間第二直線陣列數量為1-10個；

或者，

相鄰的所述第二直線陣列間第一直線陣列數量為1-3個。

6.根據權利要求1所述的CT探測器，其特征在于，

所述射線過濾單元包括：銅片或銀片。

7.一種CT檢測系統，其特征在于，包括：CT探測裝置、傳送帶、數據處理計算機、傳送帶電機、滑環電機和運動控制計算機；

所述CT探測裝置包括射線源、旋轉盤和權利要求1-6任一項所述的CT探測器；CT探測器與數據處理計算機連接，傳送帶電機和滑環電機均與運動控制計算機連接；

運動控制計算機控制傳送帶電機帶動傳送帶勻速運動，運動控制計算機控制滑環電機勻速轉動。

8.一種CT檢測方法，其特征在于，采用權利要求7所述的CT檢測系統，包括以下步驟：

被檢測物體放置在傳動帶上，傳送帶帶動被檢測物體進入檢測通道，旋轉盤圍繞傳送帶勻速轉動；

射線源發射射線，CT探測裝置接收來自于射線源的射線光子信號；

數據處理計算機從第一直線陣列采集第一檢測數據，從第二直線陣列采集第二檢測數據；

所述數據處理計算機根據所述第一檢測數據和所述第二檢測數據，確定物體的密度和原子序數信息。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，

所述數據處理計算機根據所述第一檢測數據和所述第二檢測數據，確定物體的密度和原子序數信息，包括：

所述數據處理計算機根據所述第一檢測數據，確定第一函數；

所述數據處理計算機根據所述第一函數，確定高能投影值集合；

所述數據處理計算機根據所述第二檢測數據，確定第二函數，所述第二函數以所述第二直線陣列對應的像素間距為自變量，低能投影值為因變量；

所述數據處理計算機根據所述第二函數，確定低能投影值集合；

所述數據處理計算機根據所述低能投影值集合和所述高能投影值集合，確定所述物體的密度和所述原子序數信息。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，

所述第一檢測數據，包括：所述第一直線陣列對應的像素間距和所述第一直線陣列對應的高能投影值；

所述數據處理計算機以所述第一直線陣列對應的像素間距為自變量和以所述第一直線陣列對應的高能投影值為因變量，確定所述第一函數。