[發(fā)明專利]一種太陽能模擬器的光譜失配測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011551156.0
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN114659759A
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱蘭蘭;姜大俊;劉立兵;潘勵剛;鄭旭然
• 申請（專利權(quán)）人: 鹽城阿特斯陽光能源科技有限公司;阿特斯陽光電力集團股份有限公司
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04;G01M11/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發(fā)明公開了一種太陽能模擬器的光譜失配測試方法。該測試方法具體包括：選取第1標片組至第4標片組，為第1標片組至第4標片組中的標片進行編號，然后采用太陽能模擬器作為光源的兩臺測試機臺，按照編號順序分別測試第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流，根據(jù)兩臺測試機臺測試獲得的第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流，判斷兩臺測試機臺中太陽能模擬器的光譜失配狀態(tài)。本發(fā)明提供的技術(shù)方案，可以快速確定太陽能模擬器光譜是否失配，不需額外購買光譜測試儀進行測試，降低了異常測試導致的質(zhì)量風險。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實施例涉及太陽能模擬器光源技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種太陽能模擬器的光譜失配測試方法。

背景技術(shù)

太陽能模擬器是利用人工光源在實驗室模擬實現(xiàn)真實太陽光的光譜分布、輻照度等特性的實驗設(shè)備。

目前測試機使用的太陽能模擬器光源，隨著使用時間的增長光譜能量分布會發(fā)生變化，當變化較大時會出現(xiàn)光譜失配的情況。IEC(國際電工委員會)對模擬器的等級規(guī)定中A級光譜其匹配度要在75％到125％之間，而超出這個范圍則為B級或者C級光譜。在實際使用中，當光譜失配時會造成電池片測試參數(shù)不準確，進而影響測試的穩(wěn)定輸出，造成一定的質(zhì)量風險。因此太陽光模擬器較好的光譜匹配度是產(chǎn)品測試參數(shù)準確的不可缺少的前提條件。目前產(chǎn)線使用Halm測試機無自帶光譜測試功能，如果想測試其光譜等級需要額外購買光譜測試儀進行測試，才能知道目前的模擬器是否光譜失配。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種太陽能模擬器的光譜失配測試方法，可以快速確定太陽能模擬器光譜是否失配，不需額外購買光譜測試儀進行測試，降低了異常測試導致的質(zhì)量風險。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種太陽能模擬器的光譜失配測試方法，該測試方法包括：

選取第1標片組至第4標片組，其中，第i標片組包括n個第i標片，i為大于等于1且小于等于4的正整數(shù)，第j標片與第1標片的量子效率曲線在第j波段存在差異，且第j標片與第1標片的短路電流之差大于或等于第一預(yù)設(shè)值，j為大于等于2且小于等于4的正整數(shù)，第2波段為短波段，第3波段為中波段，第4波段為長波段；

為第1標片組至第4標片組中的標片進行編號，其中，第i標片組中n個第i標片的編號分別i1、i2……in；

采用將太陽能模擬器作為光源的兩臺測試機臺，按照編號順序分別測試第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流；

根據(jù)兩臺測試機臺測試獲得的第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流，判斷兩臺測試機臺中太陽能模擬器的光譜失配狀態(tài)。

可選的，根據(jù)兩臺測試機臺測試獲得的第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流，判斷兩臺測試機臺中太陽能模擬器的光譜失配狀態(tài)包括：

所述兩臺測試機臺包括第一測試機臺和第二測試機臺，提取所述第一測試機臺測試獲得的第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流,提取所述第二測試機臺測試獲得的第1標片組至第4標片組中的各標片的短路電流；其中，所述第一測試機臺測試獲得的第i標片組中編號為im的標片的短路電流為I_1i-im,所述第二測試機臺測試獲得的第i標片組中編號為im的標片的短路電流為I_2i-im，m為大于等于1且小于等于n的正整數(shù)；

計算第1標片組至第4標片組中的各標片對應(yīng)的短路電流之差，其中，第i標片組中編號為im的標片對應(yīng)的短路電流之差Pim＝I_1i-im-I_2i-im；

根據(jù)第1標片組至第i標片組中的各標片對應(yīng)的短路電流之差，判斷兩臺測試機臺中太陽能模擬器的光譜失配狀態(tài)。

可選的，根據(jù)第1標片組至第i標片組中的各標片對應(yīng)的短路電流之差，判斷兩臺測試機臺中太陽能模擬器的光譜失配狀態(tài)包括：