[發(fā)明專利]一種太陽(yáng)能模擬器的光譜失配測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011551156.0
• 申請(qǐng)日: 2020-12-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114659759A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱蘭蘭;姜大俊;劉立兵;潘勵(lì)剛;鄭旭然
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鹽城阿特斯陽(yáng)光能源科技有限公司;阿特斯陽(yáng)光電力集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/04
• 分類號(hào): G01M11/04;G01M11/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種太陽(yáng)能模擬器的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，包括：

選取第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組，其中，第i標(biāo)片組包括n個(gè)第i標(biāo)片，i為大于等于1且小于等于4的正整數(shù)，第j標(biāo)片與第1標(biāo)片的量子效率曲線在第j波段存在差異，且第j標(biāo)片與第1標(biāo)片的短路電流之差大于或等于第一預(yù)設(shè)值，j為大于等于2且小于等于4的正整數(shù)，第2波段為短波段，第3波段為中波段，第4波段為長(zhǎng)波段；

為第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的標(biāo)片進(jìn)行編號(hào)，其中，第i標(biāo)片組中n個(gè)第i標(biāo)片的編號(hào)分別i1、i2……in；

采用將太陽(yáng)能模擬器作為光源的兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)，按照編號(hào)順序分別測(cè)試第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片的短路電流；

根據(jù)兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片的短路電流，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片的短路電流，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)包括：

所述兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)包括第一測(cè)試機(jī)臺(tái)和第二測(cè)試機(jī)臺(tái)，提取所述第一測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片的短路電流,提取所述第二測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片的短路電流；其中，所述第一測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第i標(biāo)片組中編號(hào)為im的標(biāo)片的短路電流為I_1i-im，述第二測(cè)試機(jī)臺(tái)測(cè)試獲得的第i標(biāo)片組中編號(hào)為im的標(biāo)片的短路電流為I_2i-im，m為大于等于1且小于等于n的正整數(shù)；

計(jì)算第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的各標(biāo)片對(duì)應(yīng)的短路電流之差，其中，第i標(biāo)片組中編號(hào)為im的標(biāo)片對(duì)應(yīng)的短路電流之差Pim＝I_1i-im-I_2i-im；

根據(jù)第1標(biāo)片組至第i標(biāo)片組中的各標(biāo)片對(duì)應(yīng)的短路電流之差，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)第1標(biāo)片組至第i標(biāo)片組中的各標(biāo)片對(duì)應(yīng)的短路電流之差，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)包括：

存在Pjm與P1m之差大于第一預(yù)設(shè)值，則判斷第一測(cè)試機(jī)臺(tái)或第二測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器在第j波段光譜失配。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)第1標(biāo)片組至第i標(biāo)片組中的各標(biāo)片對(duì)應(yīng)的短路電流之差，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)包括：

計(jì)算各標(biāo)片組對(duì)應(yīng)的n個(gè)短路電流之差的和值，其中，第i標(biāo)片組對(duì)應(yīng)的n個(gè)短路電流之差的和值的平均值A(chǔ)i＝(Pi1+Pi2+……Pin)/n；

存在Aj與A1之差大于或等于第二預(yù)設(shè)值時(shí)，則判斷第一測(cè)試機(jī)臺(tái)或第二測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器在第j波段光譜失配。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，所述第二預(yù)設(shè)值為0.05。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)值為0.05A。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，n＝5。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)之后還包括：

顯示所述兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，為第1標(biāo)片組至第4標(biāo)片組中的標(biāo)片進(jìn)行編號(hào)，其中，第i標(biāo)片組中n個(gè)第i標(biāo)片的編號(hào)分別i1、i2……in包括：

在第i標(biāo)片組中n個(gè)第i標(biāo)片的背面分別標(biāo)記i1、i2……in。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜失配測(cè)試方法，其特征在于，判斷兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)之后還包括：

檢測(cè)到復(fù)查指令后，重新檢測(cè)兩臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)中太陽(yáng)能模擬器的光譜失配狀態(tài)。