[發明專利]一種集成電路測試系統及其測試方法

在審

• 申請號: 202011543831.5
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112834896A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 余執鈞;鄧煥
• 申請（專利權）人: 南京能晶電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海創開專利代理事務所(普通合伙) 31374
• 代理人: 汪發成

1.一種集成電路測試系統，包括第一測試機(1)、第二測試機(2)、工控機(3)、監控站(4)、客戶端(5)和云服務器(6)，其特征在于：所述第一測試機(1)和第二測試機(2)用于分別對同一個集成電路的單一功能電路先后進行性能測試，所述第一測試機(1)和第二測試機(2)分別與工控機(3)連接，所述工控機(3)與監控站(4)通信交互，所述監控站(4)分別與客戶端(5)和云服務器(6)通信交互，其中，所述監控站(4)是由主控器(401)、預處理服務器(402)、儲存模塊(403)、報警模塊(404)、通訊模塊(405)以及儲存有標準參考模型的數據庫(406)組成，所述主控器(401)與預處理服務器(402)雙向通信交互，所述儲存模塊(403)、報警模塊(404)和通訊模塊(405)分別與主控器(401)電性連接，所述預處理服務器(402)與數據庫(406)連接。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統，其特征在于：所述工控機(3)與主控器(401)之間采用RS485轉以太網鏈接，實現RS232/485串口與以太網的雙向透明傳輸。

3.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統，其特征在于：所述通訊模塊(405)采用4G通信技術。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統，其特征在于：所述預處理服務器(402)用于接收經主控器(401)接收到的前端數據，提取數據庫(406)內的標準參考模型作為參考，對該前端數據進行預處理。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統，其特征在于：所述第一測試機(1)和第二測試機(2)在對集成電路的單一功能電路進行測試時，測試環節中集成電路的單一功能電路的測試條件及測試環境一致。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路測試系統，其特征在于：所述監控站(4)還包括顯示模塊，顯示模塊與主控器(401)電性連接，顯示模塊用于顯示經第一測試機(1)和第二測試機(2)測得的數據信息。

7.根據權利要求1-6任意一項所述的一種集成電路測試系統的測試方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟S1：根據客戶端(5)的客戶需求對集成電路相關功能電路進行測試；

步驟S2：通過工控機(3)依次向第一測試機(1)和第二測試機(2)發送開始測試信號，對同一個集成電路的單一功能電路先后進行性能測試，依次完成所需測試的多個功能電路測試后，分別測得數據A信號和數據B信號；

步驟S3：工控機(3)接收測得的數據A信號和數據B信號，通過RS485轉以太網鏈接實現工控機(3)與監控站(4)的雙向通信；

步驟S4：由監控站(4)內主控器(401)接收并將數據A信號和數據B信號傳輸給預處理服務器(402)，預處理服務器(402)提取數據庫(406)中的標準參考模型，參照標準參考模型，判斷第一測試機(1)和第二測試機(2)測試數據是否異常；

步驟S5：當第一測試機(1)和第二測試機(2)測試數據正常，預處理服務器(402)依據算數平均值指標，對數據A與數據B中相關的單一功能電路測試數據分別進行均值計算預處理，并將原數據及處理后的數據傳輸給主控器(401)；主控器(401)通過儲存模塊(403)完成儲存后，通過通訊模塊(405)將原數據及處理后的數據傳輸給云服務器(6)，由云服務器(6)對該數據進行整合及最終部署處理；

步驟S6：當第一測試機(1)和第二測試機(2)測試數據中其中一項數據異常時，由主控器(401)接收預處理服務器(402)發送的異常數據報警信號后，通過報警模塊(404)進行聲光報警。