[發明專利]自動曝光控制方法及系統

有效

• 申請號: 202011543513.9
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112672068B
• 公開（公告）日: 2022-05-03
• 發明（設計）人: 黃翌敏;何承林
• 申請（專利權）人: 上海奕瑞光電子科技股份有限公司
• 主分類號: H04N5/235
• 分類號: H04N5/235
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 施婷婷

本發明提供一種自動曝光控制方法及系統，包括：待拍攝物體進入拍攝區域，對待拍攝物體進行圖形采集并獲取待拍攝部位的位置信息；基于待拍攝物體與平板探測器的相對位置，確定平板探測器的曝光輻照射野；選定平板探測器的曝光輻照射野，對待拍攝部位進行曝光，完成曝光后平板探測器觸發圖像采集。本發明通過視覺裝置采集信息，計算分析得到輻照射野選擇范圍，降低了操作人員的主觀影響，曝光輻照射野選擇更加精準；基于曝光輻照射野區域的曝光劑量檢測實現自動曝光控制，結構簡單、成本低；通過算法預測曝光劑量，可有效避免曝光劑量誤差，實現精準曝光控制，提高成像質量；在檢測到曝光結束后立即自動采集圖像，縮短了采圖周期。

技術領域

本發明涉及平板探測領域，特別是涉及一種自動曝光控制方法及系統。

背景技術

平板探測器是上個世紀開始誕生的X射線影像新型檢測技術，以成像速度快、分辨率高等特點著稱，廣泛應用于醫療檢測、無損檢測、安檢等領域。在工業檢測應用中，傳統膠片記錄曝光輻照圖像，價格昂貴，不易保存，數字平板探測器應用于工業檢測已成為未來的發展方向。

在進行曝光前首先需要設置曝光輻照射野，傳統的自動曝光控制的曝光輻照射野的數量和位置都是固定的，需要通過調整待檢測物體的位置實現待檢測部位與曝光輻照射野的匹配，實際操作中非常不方便。近年來，基于平板探測器面板掃描的集成化智能自動曝光控制技術逐漸成熟，通過全面板檢測選擇曝光輻照射野，但是全面板檢測時曝光輻照射野的可選擇性范圍大，若僅憑借操作者主觀選擇，對操作者的要求較高，且存在選擇不準確的風險。

因此，如何準確設置曝光輻照射野，簡化曝光操作難度，已成為本領域技術人員亟待解決的問題之一。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種自動曝光控制方法及系統，用于解決現有技術中曝光輻照射野難以控制的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種自動曝光控制方法，所述自動曝光控制方法至少包括：

1）待拍攝物體進入拍攝區域，對所述待拍攝物體進行圖形采集并獲取待拍攝部位的位置信息；

2）基于所述待拍攝物體與平板探測器的相對位置，確定所述平板探測器的曝光輻照射野；

3）選定所述平板探測器的曝光輻照射野，對所述待拍攝部位進行曝光，完成曝光后所述平板探測器觸發圖像采集。

可選地，步驟1）中基于紅外線、可見光或紫外線對所述待拍攝物體的圖像進行采集。

更可選地，所述自動曝光控制方法還包括：基于所述待拍攝物體的圖像獲取所述待拍攝部位的形狀信息，并測量所述待拍攝部位的厚度信息，根據所述待拍攝部位的形狀信息及厚度信息確定曝光劑量閾值。

更可選地，基于超聲波測量或激光測量獲取所述待拍攝部位的厚度信息。

可選地，步驟3）中曝光開始后，所述平板探測器檢測曝光劑量率并對曝光劑量進行實時判斷，若實時曝光劑量達到曝光劑量閾值則觸發所述閘斷控制信號。

可選地，步驟3）中曝光開始后，所述平板探測器檢測曝光劑量率并對曝光結束時的曝光劑量進行預測判斷，得到預測曝光劑量，若預測曝光劑量達到曝光劑量閾值則觸發所述閘斷控制信號。

更可選地，基于曝光劑量率及信號傳輸鏈路延遲時長預測曝光結束時的曝光劑量，所述曝光劑量率及所述信號傳輸鏈路延遲時長與曝光結束時的曝光劑量成正相關關系。

更可選地，所述自動曝光控制方法還包括：當包括至少兩個曝光輻照射野時，基于各曝光輻照射野之間的邏輯關系確定所述平板探測器是否發出閘斷控制信號。

更可選地，各曝光輻照射野之間的邏輯關系包括邏輯與、邏輯或及加權平均中的至少一種。