[發明專利]一種功率模塊的缺針測試治具

在審

• 申請號: 202011540283.0
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112394208A
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發明（設計）人: 沈巧強
• 申請（專利權）人: 嘉興斯達半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/26
• 代理公司: 杭州九洲專利事務所有限公司 33101
• 代理人: 陳琦;陳繼亮

本發明公開了一種功率模塊的缺針測試治具，包括機械支撐部及設置在機械支撐部內的測試治具本體，所述測試治具本體主要包括上下設置的探針接觸部和探針檢測部，所述探針接觸部包括第一固定板及垂直設置在第一固定板上的若干接觸探針，探針接觸部上設置有第一探針電路板；所述探針檢測部包括第二固定板及垂直設置在第二固定板上的若干檢測探針，探針檢測部上設置有第二探針電路板，該第二探針電路板上設置有電源及指示燈；所述接觸探針及檢測探針的數量和位置與功率模塊的針腳對應，當功率模塊的全部針腳下壓接觸探針使得接觸探針與檢測探針接觸時，第一探針電路板和第二探針電路板上的電路連通并形成完整回路使得探針檢測部上的指示燈點亮。

技術領域

本發明涉及半導體功率模塊的測試領域，具體涉及一種功率模塊的缺針測試治具。

背景技術

功率半導體模塊是按一定功能、模式的組合體，可根據封裝的元器件的不同實現不同功能。功率半導體器件以功率金屬氧化物半導體場效應晶體管(功率mosfet，常簡寫為功率mos)、絕緣柵雙極晶體管(igbt)以及功率集成電路(power ic，常簡寫為pic)為主。這些器件或集成電路能在很高的頻率下工作，而電路在高頻工作時能更節能、節材，能大幅減少設備體積和重量。尤其是集成度很高的單片片上功率系統(power system on a chip，簡寫psoc)，它能把傳感器件與電路、信號處理電路、接口電路、功率器件和電路等集成在一個硅芯片上，使其具有按照負載要求精密調節輸出和按照過熱、過壓、過流等情況自我進行保護的智能功能。

隨著半導體器件的發展，功率半導體模塊目前已經越來越多的運用在各種場合，例如：工業用變頻器，焊機電源，機車牽引，風力發電等各種場合。由于大功率模塊有許多針腳，特別是同一極上多根針腳（三根及以上）時，在電性能測試時是不能通過四線法檢測到所有針腳的，所以會通過外觀目檢的方式去查看模塊是否有缺針的情況，但是這種人工方法費時費力且效率較低的同時還會有漏看的情況發生，使得出廠后的產品成品率降低，對功率半導體模塊的產品質量帶來了不利影響。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，針對現有技術的上述缺陷，提供一種結構簡單、測試方便且測試效果準確的功率模塊的缺針測試治具。

本發明的目的是通過如下技術方案來完成的，一種功率模塊的缺針測試治具，用于檢測多針腳的功率模塊是否有缺針情況，包括機械支撐部及設置在機械支撐部內的測試治具本體，所述測試治具本體主要包括上下設置的探針接觸部和探針檢測部，所述探針接觸部包括第一固定板及垂直設置在第一固定板上且可以相對于該固定板上下運動的若干接觸探針，所述探針接觸部上設置有第一探針電路板；所述探針檢測部包括第二固定板及垂直設置在第二固定板上且可以相對于該固定板上下運動的若干檢測探針，所述探針檢測部上設置有第二探針電路板，該第二探針電路板上設置有電源及指示燈；所述接觸探針及檢測探針的數量和位置與功率模塊的針腳對應，且當功率模塊的全部針腳下壓接觸探針使得接觸探針與檢測探針接觸時，第一探針電路板和第二探針電路板上的電路連通并形成一個完整回路使得探針檢測部上的指示燈點亮。

進一步地，所述接觸探針為頭部絕緣的探針，所述檢測探針為彈簧探針。

進一步地，所述機械支撐部由高強度的絕緣材料制成。

進一步地，所述機械支撐部由厚度為10mm的FR4材料制成。

本發明的有益技術效果在于：本發明結構簡單，通過探針接觸部和探針檢測部來對功率模塊的針腳進行檢測， 能有效防止人工目檢中的漏檢，避免缺陣器件流入市場，降低了生產成本的同時還提高了質檢效率。

附圖說明

圖1為多針型功率器件模塊的結構示意圖；

圖2為本發明所述測試治具本體的結構示意圖；

圖3為本發明所述第一探針電路板的電路結構示意圖；