[發明專利]一種功率模塊的缺針測試治具

在審

• 申請號: 202011540283.0
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112394208A
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發明（設計）人: 沈巧強
• 申請（專利權）人: 嘉興斯達半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/26
• 代理公司: 杭州九洲專利事務所有限公司 33101
• 代理人: 陳琦;陳繼亮

1.一種功率模塊的缺針測試治具，用于檢測多針腳的功率模塊是否有缺針情況，其特征在于：包括機械支撐部及設置在機械支撐部內的測試治具本體，所述測試治具本體主要包括上下設置的探針接觸部和探針檢測部，所述探針接觸部包括第一固定板及垂直設置在第一固定板上且可以相對于該固定板上下運動的若干接觸探針，所述探針接觸部上設置有第一探針電路板；所述探針檢測部包括第二固定板及垂直設置在第二固定板上且可以相對于該固定板上下運動的若干檢測探針，所述探針檢測部上設置有第二探針電路板，該第二探針電路板上設置有電源及指示燈；所述接觸探針及檢測探針的數量和位置與功率模塊的針腳對應，且當功率模塊的全部針腳下壓接觸探針使得接觸探針與檢測探針接觸時，第一探針電路板和第二探針電路板上的電路連通并形成一個完整回路使得探針檢測部上的指示燈點亮。

2.根據權利要求1所述的功率模塊的缺針測試治具，其特征在于：所述接觸探針為頭部絕緣的探針，所述檢測探針為彈簧探針。

3.根據權利要求1或2所述的功率模塊的缺針測試治具，其特征在于：所述機械支撐部由高強度的絕緣材料制成。

4.根據權利要求3所述的功率模塊的缺針測試治具，其特征在于：所述機械支撐部由厚度為10mm的FR4材料制成。