[發明專利]一種面板缺陷檢測方法、存儲介質及終端設備

在審

• 申請號: 202011540178.7
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN114660065A
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發明（設計）人: 王俊卜;劉陽興
• 申請（專利權）人: 武漢TCL集團工業研究院有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 溫宏梅

本申請公開了一種面板缺陷檢測方法、存儲介質及終端設備，所述方法包括獲取待檢測的面板圖像的第一特征圖；將所述第一特征圖沿通道方向劃分為若干子特征圖，并基于所述若干子特征圖確定所述面板圖像對應的第二特征圖；基于第二特征圖，確定所述面板圖像對應的缺陷區域。本申請在獲取到第一特征圖后，將第一特征圖按照通道方向劃分為若干子特征圖，這樣通過分通道提取第一特征圖的圖像特征，可以提高第二特征圖的信息路徑的靈活性和多樣性，從而可以提高缺陷區域的準確性。

技術領域

本申請涉及面板加工技術領域，特別涉及一種面板缺陷檢測方法、存儲介質及終端設備。

背景技術

產品質量是制造業最為重視的生產指標之一，為了保證產品質量，在產品生產過程中對產品進行缺陷檢測成為不可或缺的工序，例如，顯示面板(例如，薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)等)為例，每條產線都需要對顯示面板進行缺陷檢測。然而，目前普遍是通過人工對顯示面板進行缺陷檢測，然而，檢測人員在大量重復性的勞動時因出現視力疲勞而造成誤判，進而影響顯示面板的質量。

發明內容

本申請要解決的技術問題在于，針對現有技術的不足，提供一種面板缺陷檢測方法、存儲介質及終端設備。

為了解決上述技術問題，本申請實施例第一方面提供了一種面板缺陷檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測的面板圖像的第一特征圖；

將所述第一特征圖沿通道方向劃分為若干子特征圖，并基于所述若干子特征圖確定所述面板圖像對應的第二特征圖；

基于第二特征圖，確定所述面板圖像對應的缺陷區域。

所述面板缺陷檢測方法，其中，所述若干子特征圖中的每個子特征圖的通道數相同。

所述面板缺陷檢測方法，其中，所述面板缺陷檢測方法應用于缺陷檢測模型，所述缺陷檢測模型包括劃分模塊，所述將所述第一特征圖沿通道方向劃分為若干子特征圖，并基于所述若干子特征圖確定所述面板圖像對應的第二特征圖具體為：

將所述第一特征圖輸入所述劃分模塊，通過所述劃分模塊確定所述第一特征圖對應的若干子特征圖，并基于所述若干子特征圖確定所述面板圖像對應的第二特征圖，其中，所述第二特征圖用于反映待檢測的面板圖像的圖像內容特征。

所述面板缺陷檢測方法，其中，所述劃分模塊包括劃分單元、若干卷積單元以及融合單元；所述將所述第一特征圖輸入所述劃分模塊，通過所述劃分模塊確定所述第一特征圖對應的若干子特征圖，并基于所述若干子特征圖確定所述面板圖像對應的第二特征圖具體包括；

將所述第一特征圖輸入所述劃分單元，通過所述劃分單元將第一特征圖沿通道劃分為若干子特征圖，其中，若干子特征圖與若干卷積單元一一對應；

分別將各子特征圖輸入各自對應的卷積單元，通過各卷積單元輸出各子特征圖對應的候選特征圖；

將若干候選特征圖按照通道拼接得到的特征圖，并將所述特征圖和所述第一特征圖輸入所述融合單元，通過所述融合單元輸出第二特征圖。

所述面板缺陷檢測方法，其中，各候選特征圖在第二特征圖像中的通道位置與該候選特征圖對應的子特征圖在所述第一特征圖中的通道位置相同。

所述面板缺陷檢測方法，其中，所述面板缺陷檢測方法應用于缺陷檢測模型，所述缺陷檢測模型包括檢測模塊以及若干級聯的殘差模塊；所述基于第二特征圖，確定所述面板圖像對應的缺陷區域具體包括：

利用若干殘差模塊確定所述第二特征圖對應的若干參考特征圖，其中，若干參考特征圖與若干殘差模塊一一對應；

利用所述檢測模塊，根據若干參考特征圖確定所述面板圖像對應的若干第三特征圖，其中，若干參考特征圖與若干第三特征圖一一對應；