[發明專利]輪廓檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011536729.2
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112598645B
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 陳海波;李宗劍
• 申請（專利權）人: 深蘭智能科技（上海）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G01B21/20
• 代理公司: 蘇州領躍知識產權代理有限公司 32370
• 代理人: 王寧

1.一種輪廓檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取參考產品的輪廓掃描數據，所述輪廓掃描數據包括第一輪廓線至第N輪廓線的掃描數據，N是正整數；

獲取待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據，k是不大于N的正整數；

根據所述參考產品的第k輪廓線的掃描數據和所述待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據，檢測所述待檢測產品的第k輪廓線是否滿足第一預定條件；

若不滿足所述第一預定條件，則生成第一控制指令并發送至輪廓檢測設備，以使所述輪廓檢測設備根據所述第一控制指令停止檢測；

目標產品是所述參考產品或者所述待檢測產品；

獲取所述目標產品的輪廓掃描數據的方法包括：

獲取掃描時序信息，所述掃描時序信息包括N個時序標識以及每個所述時序標識對應的所述輪廓檢測設備的位姿信息，所述N個時序標識包括第一時序標識至第N時序標識，且第i時序標識對應輪廓掃描的第i時序，所述位姿信息包括位置信息和/或姿態信息，i是不大于N的正整數；

根據所述掃描時序信息，生成第二控制指令并發送至所述輪廓檢測設備，以使所述輪廓檢測設備在所述第i時序按照所述第i時序標識對應的位姿信息掃描所述目標產品，得到所述目標產品的第i輪廓線的掃描數據；

接收所述輪廓檢測設備發送的所述目標產品的第i輪廓線的掃描數據。

2.根據權利要求1所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述獲取待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據，包括：

獲取所述待檢測產品的輪廓掃描數據；

根據所述待檢測產品的輪廓掃描數據，獲取所述待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據。

3.根據權利要求1所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述獲取待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據，包括：

根據第k時序標識對應的位姿信息，生成第三控制指令并發送至所述輪廓檢測設備，以使所述輪廓檢測設備按照所述第k時序標識對應的位姿信息掃描所述待檢測產品，得到所述待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據；

接收所述輪廓檢測設備發送的所述待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據。

4.根據權利要求1所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述第一預定條件包括以下至少一種：

所述待檢測產品的第k輪廓線和所述參考產品的第k輪廓線重合或者近似重合；

所述待檢測產品的第k輪廓線的累積殘差小于預定累積殘差，所述累積殘差用于指示所述待檢測產品的第k輪廓線與所述參考產品的第k輪廓線的偏差。

5.根據權利要求1所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述生成第一控制指令并發送至輪廓檢測設備，包括：

根據所述參考產品的第k輪廓線的掃描數據和所述待檢測產品的第k輪廓線的掃描數據，檢測所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響程度是否滿足第二預定條件；

若滿足所述第二預定條件，則生成所述第一控制指令并發送至所述輪廓檢測設備。

6.根據權利要求5所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述檢測所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響程度是否滿足第二預定條件，包括：

獲取所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響參數值；

檢測所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響參數值是否處于預定取值范圍；

若處于所述預定取值范圍，則確定所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響程度滿足所述第二預定條件。

7.根據權利要求5所述的輪廓檢測方法，其特征在于，所述檢測所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響程度是否滿足第二預定條件，包括：

獲取所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響類型；

檢測所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響類型是否是預定類型；

若是所述預定類型，則確定所述待檢測產品的第k輪廓線的缺陷影響程度滿足所述第二預定條件。