[發(fā)明專利]一種銀面碳化硅二極管表面鈍化加工工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011528189.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112652533A | 公開(公告)日: | 2021-04-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊勇;張光亞;朱勇華;付國(guó)振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市美浦森半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/329 | 分類號(hào): | H01L21/329;H01L29/861;H01L29/16;H01L29/06 |
| 代理公司: | 中山市科企聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44337 | 代理人: | 楊立銘 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)招*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 碳化硅 二極管 表面 鈍化 加工 工藝 | ||
1.一種銀面碳化硅二極管表面鈍化加工工藝,其特征在于,包括以下步驟:
S10.在二極管的表面通過金屬掩模版曝光刻蝕正面金屬鋁層;
S20.在金屬鋁層上沉積一層等離子PE氮化硅層,通過鈍化掩膜版曝光各向同性干法刻蝕等離子PE氮化硅層,形成器件終端表面鈍化結(jié)構(gòu);
S30.在器件終端表面鈍化結(jié)構(gòu)上蒸發(fā)一復(fù)合金屬鈦鎳銀層;
S40.通過金屬掩模版曝光刻蝕復(fù)合金屬鈦鎳銀層,形成器件銀面正電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的銀面碳化硅二極管表面鈍化加工工藝,其特征在于,步驟S10中的金屬鋁層的厚度為3~4微米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的銀面碳化硅二極管表面鈍化加工工藝,其特征在于,所述等離子PE氮化硅層的厚度為0.5~1微米。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的銀面碳化硅二極管表面鈍化加工工藝,其特征在于,所述復(fù)合金屬鈦鎳銀層厚度為0.1-0.5-0.6微米。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





