[發明專利]DWDM光模塊發端調試方法

有效

• 申請號: 202011520356.X
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112636865B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 范巍;楊培云;何志賢
• 申請（專利權）人: 四川華拓光通信股份有限公司
• 主分類號: H04J14/02
• 分類號: H04J14/02;H04B10/50;H04B10/572
• 代理公司: 綿陽遠卓弘睿知識產權代理事務所(普通合伙) 51371
• 代理人: 蔣海燕

本發明公開了一種DWDM光模塊發端調試方法，包括：S1、基于模塊中激光器的特性，通過對發射中心波長與TEC溫度斜率K1、發射光功率與TEC溫度斜率K2進行計算，并根據計算結果得到對應的TEC溫度、功率變化量；S2、根據TEC溫度、功率變化量，在DWDM模塊發端調試時，對發端功率、中心波長進行預調試，進而縮減發端中心波長調試的次數和發端調試循環的次數。本發明提供一種DWDM光模塊發端調試方法，其利用發端調試中根據TOSA的工作特性，預先計算出發射中心波長與TEC溫度斜率K1，發射光功率與TEC溫度斜率K2，在DWDM模塊發端調試時，用K1、K2系數計算出所需的目標值替代實際調試值，縮減發端中心波長調試的次數、發端調試循環的次數、調試等待時間，大幅降低發端調試的用時，調高生產效率，調試時間只是現有方案的二分之一，調試效率提高200％。

技術領域

本發明涉及一種光通信領域。更具體地說，本發明涉及一種DWDM光模塊發端調試方法。

背景技術

如圖2，DWDM光模塊發射端主要由激光驅動器、發射光器件(TransmittingOptical Sub-Assembly，以下簡稱TOSA)、微控制單元、TEC溫度驅動四部分組件。激光驅動器主要是為TOSA提供偏置和調制電流，調節TOSA的光功率，TOSA主要是完成電信號光信號的轉換，根據不同的電流發射出不同的光功率，TEC溫度驅動主要為TOSA的半導體制冷器(Thermo Electric Cooler，以下簡稱TEC)提供驅動，調節激光器的工作溫度

DWDM光模塊發端調試主要是通過激光驅動器調整TOSA的工作電流、通過TEC溫度驅動器調整TOSA的工作溫度，使TOSA發射光功率、中心波長滿足使用要求。

通過圖3的發射光器件特性可以看出，激光器發射功率隨工作電流成正比，工作電流越大發射光功率越大；相同的工作電流時工作溫度越高，發射功率越低。TOSA中心波長隨激光工作溫度變化，根據是采用TOSA，中心波長隨溫度變化典型值為0.09nm/℃。

DWDM發射端調試時的調試算法流程如圖4所示，其調試步驟如下如示：

Step1、功率調試

通過調節TOSA工作電流，使TOSA發射功率滿足使用要求范圍；

Step2、發射中心波長調試

通過調試TOSA TEC溫度，調整TOSA工作溫度，是發射波長滿足使用要求。由于每次調整TEC溫度后，到軟件讀取到穩定的中心波長，需要2～3秒鐘的時間，且由于為DWDM模塊，波長要求調試精度通常為±30pm，導致通常需要調試10～20次才能達到需要的中心波長范圍，調試時間非常長。

Step3、測試發端功率

波長調試后，由于TOSA工作溫度變化，由TOSA工作特性決定，TOSA發射功率也會隨之變化，當調整中心波長時溫度變化較大，就會導致發射功率不能滿足要求。

功率、波長判定，判定功率二次調試后，發射功率和中心波長是否滿足要求范圍，滿足則進行Step4消光比眼圖調試，不滿足則返回Step1。由于通常在波長調試時TEC溫度與調試后的溫度偏差較大，導致功率變化較大，功率調后又引起波長的變化，所以有較大的概率需要進行重新調試。

Step4、消光比、交叉點調試

調試發端消光比、交叉點后完成發端調試。

由此可知，現有的調試方法，需要將TOSA發射功率、中心波長調制至要求的范圍，調制過程中由于光功率、工作溫度、波長存在相互影響的關系，導致需要反復調試，調試時間很長。

發明內容

本發明的一個目的是解決至少上述問題和/或缺陷，并提供至少后面將說明的優點。

為了實現根據本發明的這些目的和其它優點，提供了一種DWDM光模塊發端調試方法，包括：