[發明專利]DWDM光模塊發端調試方法有效
| 申請號： | 202011520356.X | 申請日： | 2020-12-21 |
| 公開（公告）號： | CN112636865B | 公開（公告）日： | 2022-07-29 |
| 發明（設計）人： | 范巍;楊培云;何志賢 | 申請（專利權）人： | 四川華拓光通信股份有限公司 |
| 主分類號： | H04J14/02 | 分類號： | H04J14/02;H04B10/50;H04B10/572 |
| 代理公司： | 綿陽遠卓弘睿知識產權代理事務所(普通合伙) 51371 | 代理人： | 蔣海燕 |
| 地址： | 621000 四川省*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | dwdm 模塊 發端 調試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種DWDM光模塊發端調試方法，其特征在于，包括：
S1、基于模塊中激光器的特性，通過對發射中心波長與TEC溫度斜率K1、發射光功率與TEC溫度斜率K2進行計算，并根據計算結果得到對應的TEC溫度、功率變化量；
S2、根據TEC溫度、功率變化量，在DWDM模塊發端調試時，對發端功率、中心波長進行預調試，進而縮減發端中心波長調試的次數和發端調試循環的次數；
在步驟S1中，所述TEC溫度、功率變化量的獲得步驟被配置為包括：
S10、通過調節TOSA工作電流，使TOSA發射功率滿足使用要求范圍；
S11、根據功率調試后當前波長與目標波長的差異值，基于差異值與K1計算出需調整TOSA的TEC 第一溫度值，將其寫入存儲列表中；
S12：基于計算得出需調整的TEC 第一溫度值，按TEC溫度與K2，計算出需TEC溫度調整的功率變化量；
在步驟S2中，所述預調試被配置為包括：
S20、將功率變化量與預定值進行比較，若小于預定值則進入S22調試；否則進入S21中進行功率微調，并在微調完成后進入S22；
S21、將功率微調至范圍內，重復步驟S1；
S22、對中心波長進行微調。
2.如權利要求1所述的DWDM光模塊發端調試方法，其特征在于，還包括S3、對調試發端的消光比、交叉點進行調試。
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