[發明專利]集成電路設計的驗證方法、驗證裝置以及存儲介質

有效

• 申請號: 202011514297.5
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112597718B
• 公開（公告）日: 2023-10-03
• 發明（設計）人: 張劍峰;王斌;鄢傳欽
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F30/33
• 分類號: G06F30/33
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云;王薇

1.一種集成電路設計的驗證方法，包括：

根據使用測試用例組對所述集成電路設計進行仿真得到的功能覆蓋率報告確定所述測試用例組中的重復測試用例，

其中，所述集成電路設計的預期功能對應多個功能覆蓋單元，所述測試用例組包括多個測試用例，所述多個測試用例的每個覆蓋所述多個功能覆蓋單元中的至少一個，所述重復測試用例所覆蓋的功能覆蓋單元被其它測試用例完全覆蓋。

2.如權利要求1所述的驗證方法，還包括：將所述重復測試用例從所述測試用例組中移除以對所述測試用例組進行優化。

3.如權利要求2所述的驗證方法，還包括：將優化后的測試用例組用于對所述集成電路設計進行仿真。

4.如權利要求1所述的驗證方法，其中，所述功能覆蓋單元為所述集成電路設計的預期功能的最小功能覆蓋單元。

5.如權利要求1所述的驗證方法，其中，根據使用測試用例組對所述集成電路設計進行仿真得到的功能覆蓋率報告確定所述測試用例組中的重復測試用例包括：

從所述功能覆蓋率報告中提取所述多個測試用例中每個所覆蓋的功能覆蓋單元信息，以及

對所述多個功能覆蓋單元中被多個測試用例所覆蓋的功能覆蓋單元進行標記。

6.如權利要求1所述的驗證方法，還包括：

根據所述功能覆蓋率報告確定所述集成電路設計的預期功能對應的多個功能覆蓋單元是否被所述測試用例組完全覆蓋。

7.如權利要求6所述的驗證方法，還包括：

當所述集成電路設計的預期功能對應的多個功能覆蓋單元未被所述測試用例組完全覆蓋，向所述測試用例組中添加新的測試用例以對所述集成電路設計進行仿真。

8.如權利要求1所述的驗證方法，其中，在所述仿真中使用所述測試用例組觸發所述集成電路設計產生至少一個功能行為，將所述至少一個功能行為與所述集成電路設計的預期功能進行對比以生成所述功能覆蓋率報告，所述功能覆蓋率報告顯示出所述集成電路設計的預期功能所對應的功能覆蓋單元被所述測試用例組覆蓋的情況。

9.如權利要求1-8任一所述的驗證方法，其中，所述集成電路設計使用硬件編程語言實現。

10.一種集成電路設計的驗證裝置，包括：

處理器，以及

存儲器，其中，所述存儲器中存儲有計算機可執行代碼，當所述計算機可執行代碼被執行時，執行權利要求1-9任一所述的驗證方法。

11.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機可執行代碼，所述計算機可執行代碼在被執行時，執行權利要求1-9任一所述的驗證方法。

12.一種集成電路設計的驗證裝置，包括：

重復測試用例確定單元，配置為根據使用測試用例組對所述集成電路設計進行仿真得到的功能覆蓋率報告確定所述測試用例組中的重復測試用例，

其中，所述集成電路設計的預期功能對應多個功能覆蓋單元，所述測試用例組包括多個測試用例，所述多個測試用例的每個覆蓋所述多個功能覆蓋單元中的至少一個，所述重復測試用例所覆蓋的功能覆蓋單元被其它測試用例完全覆蓋。