[發明專利]多功能芯片硬度測試設備

在審

• 申請號: 202011508782.1
• 申請日: 2020-12-19
• 公開（公告）號: CN112763360A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 伍少成;曹小洪;姜和芳;趙杰;馬越;孫文龍;梁洪浩;李思鑒;陳曉偉;劉濤
• 申請（專利權）人: 深圳供電局有限公司
• 主分類號: G01N3/42
• 分類號: G01N3/42
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 朱志達

本發明涉及一種多功能芯片硬度測試設備，包括硬度測試裝置、清潔裝置及除塵裝置，其中，硬度測試裝置包括驅動件、壓痕器及硬度測試儀，所述驅動件驅動壓痕器擠壓芯片，所述硬度測試儀根據壓痕器擠壓芯片狀況獲取芯片硬度；清潔裝置用于去除芯片表面產生的壓屑，除塵裝置用于收集所述清潔裝置去除的壓屑。上述多功能芯片硬度測試設備，通過硬度測試裝置檢測芯片硬度后由清潔裝置去除芯片上的壓屑，除塵裝置收集清潔裝置去除的壓屑，從而完成芯片的硬度檢測及清潔。

技術領域

本發明涉及一種測試裝置，特別是涉及一種多功能芯片硬度測試設備。

背景技術

計算機芯片作為計算機的核心部件，計算機芯片相關性能直接決定了計算機的運行狀況。目前，為了測試計算機芯片的抗暴力攻擊能力，主要通過擠壓芯片測試芯片的硬度。但是，對于不同芯片需放置不同的硬度測試區進行測試，且測試硬度過程中產生的壓屑會污染環境。

發明內容

基于此，有必要針對上述問題，提供一種多功能芯片硬度測試設備。

一種多功能芯片硬度測試設備，包括：

硬度測試裝置，包括驅動件、壓痕器及硬度測試儀，所述驅動件驅動壓痕器擠壓芯片，所述硬度測試儀根據壓痕器擠壓芯片狀況獲取芯片硬度；

清潔裝置，用于移除芯片表面產生的壓屑；

除塵裝置，連通于所述清潔裝置，所述清潔裝置移除芯片表面壓屑于靠近除塵裝置的一側，所述除塵裝置用于收集所述清潔裝置移除的壓屑。

上述多功能芯片硬度測試設備，硬度測試裝置檢測芯片硬度后由清潔裝置移除芯片上的壓屑于靠近除塵裝置的一側，除塵裝置收集清潔裝置移除的壓屑，從而完成芯片的硬度檢測及清潔。

在其中一個實施例中，所述壓痕器包括固定器及壓頭，所述固定器位于驅動件下方，所述固定器可固定不同型號的壓頭，所述壓頭用于擠壓芯片。

在其中一個實施例中，還包括滑板，所述驅動件滑動連接于所述滑板。

在其中一個實施例中，所述硬度測試裝置包括控制器及檢測器，所述控制器電連接所述驅動件及檢測器，所述檢測器用于獲取芯片的位置信息并傳輸于所述控制器，所述控制器根據獲取的位置信息控制所述驅動件相對滑板移動以使所述壓頭正對所述芯片。

在其中一個實施例中，所述清潔裝置位于所述硬度測試裝置的一側，所述除塵裝置朝向遠離硬度測試裝置的一側連接所述清潔裝置。

在其中一個實施例中，所述清潔裝置包括清潔器及第二放置架，所述第二放置架用于固定芯片，所述清潔器位于所述第二放置架一側以去除芯片表面的壓屑。

在其中一個實施例中，所述除塵裝置包括除塵管道、除塵電機及除塵控制器，所述除塵管道連通于清潔裝置，所述除塵控制器控制除塵電機啟動，所述除塵電機通過所述除塵管道吸收所述清潔裝置的壓屑。

在其中一個實施例中，還包括收集裝置，所述收集裝置用于收集壓屑，所述除塵電機通過所述除塵管道吸收所述清潔裝置的壓屑于所述收集裝置。

在其中一個實施例中，所述除塵管道及除塵電機位于所述第二放置架的兩側，所述除塵管道與所述除塵電機相對。

在其中一個實施例中，還設有機械手，所述機械手位于所述硬度測試裝置和清潔裝置之間，或者所述機械手位于所述硬度測試裝置和清潔裝置的同一側，所述機械手用于取放芯片于所述硬度測試裝置或所述清潔裝置。

附圖說明

圖1為多功能芯片硬度測試設備示意圖。

圖標：

10-多功能芯片硬度測試設備；