[發(fā)明專利]一種芯片測試方法及裝置

在審

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• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112684321A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發(fā)明（設計）人: 金羅軍;吳臻志
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫靈汐類腦科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京麥寶利知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(特殊普通合伙) 11733
• 代理人: 趙艷紅

本發(fā)明公開了一種芯片測試方法及裝置。所述芯片測試方法，包括：通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本；將所述芯片中預設的預期結(jié)果樣本和所述結(jié)果樣本進行對比；根據(jù)對比的結(jié)果，分析出所述處理功能的測試結(jié)果。本發(fā)明在沒有處理功能對應的引腳的情況下，快速便捷的測試該芯片自帶的各個處理功能，并可根據(jù)測試結(jié)果直接定位出現(xiàn)故障的處理功能。

技術領域

本發(fā)明涉及芯片技術領域，特別涉及一種芯片測試方法及裝置。

背景技術

芯片隨著時代的發(fā)展，其應用領域和產(chǎn)品數(shù)量都成幾何級的增長。而且越來越多的功能被直接集成在芯片中。芯片在設計、制造、封裝或系統(tǒng)集成過程中，都可能發(fā)生各種各樣的故障。對芯片自帶功能的常規(guī)測試方式是通過芯片的引腳來進行的。但是芯片自帶的處理功能在很多情況下并不存在相應的引腳來供檢測設備來進行檢測。如何妥善的解決上述問題，就成為了業(yè)界亟待解決的課題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種芯片測試方法及裝置，在沒有處理功能對應的引腳的情況下，快速便捷的測試該芯片自帶的各個處理功能，并可根據(jù)測試結(jié)果直接定位出現(xiàn)故障的處理功能。

根據(jù)本發(fā)明實施例的第一方面，提供一種芯片測試方法，包括：

通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本；

將所述芯片中預設的預期結(jié)果樣本和所述結(jié)果樣本進行對比；

根據(jù)對比的結(jié)果，分析出所述處理功能的測試結(jié)果。

在一個實施例中，在所述通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本之前，包括：

根據(jù)接收到的測試指令，將所述芯片調(diào)整為自測試模式。

在一個實施例中，所述通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本，包括：

在芯片中預設的待測樣本庫中，按照預設的選擇順序，選擇出用于測試的待測樣本；

對所述待測樣本逐一使用芯片自帶的處理功能進行處理，得到各個待測樣本經(jīng)過各種處理功能得到的結(jié)果樣本，所述芯片自帶的處理功能的數(shù)量大于等于一。

在一個實施例中，所述將所述芯片中預設的預期結(jié)果樣本和所述結(jié)果樣本進行對比，包括：

根據(jù)所述結(jié)果樣本對應的待測樣本和所述結(jié)果樣本對應的處理功能，在芯片中預設的預期結(jié)果樣本庫中確定出相應的預期結(jié)果樣本；

對所述預期結(jié)果樣本和所述結(jié)果樣本進行相似度對比，計算出相似度。

在一個實施例中，所述根據(jù)對比的結(jié)果，分析出所述處理功能的測試結(jié)果，包括：

若所述相似度大于預設的相似度閾值，確認所述處理功能的測試結(jié)果為合格；

若所述相似度小于等于預設的相似度閾值，確認所述處理功能的測試結(jié)果為故障。

在一個實施例中，還包括：

將所述處理的測試結(jié)果以多媒體的方式進行反饋，所述多媒體方式包括多種顏色的信號燈。

在一個實施例中，還包括：

所述待測樣本包括圖像樣本，被測試的所述處理功能包括圖像處理功能。

根據(jù)本發(fā)明實施例的第二方面，提供一種芯片測試裝置，所述芯片缺乏處理模塊的專用測試管腳，包括：

處理模塊，用于通過芯片自帶的圖像處理功能，對所述芯片中預設的待測樣本進行圖像處理，得到處理后的結(jié)果樣本；

處理模塊，用于對所述芯片中預設的待測樣本進行處理，得到處理后的結(jié)果樣本；