[發明專利]一種芯片測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202011508032.4
• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112684321A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 金羅軍;吳臻志
• 申請（專利權）人: 無錫靈汐類腦科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京麥寶利知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11733
• 代理人: 趙艷紅

1.一種芯片測試方法，其特征在于，所述芯片缺乏處理模塊的專用測試管腳，包括：

通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結果樣本；

將所述芯片中預設的預期結果樣本和所述結果樣本進行對比；

根據對比的結果，分析出所述處理功能的測試結果。

2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結果樣本之前，包括：

根據接收到的測試指令，將所述芯片調整為自測試模式。

3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述通過芯片自帶的處理功能對待測樣本進行處理，得到處理后的結果樣本，包括：

在芯片中預設的待測樣本庫中，按照預設的選擇順序，選擇出用于測試的待測樣本；

對所述待測樣本逐一使用芯片自帶的處理功能進行處理，得到各個待測樣本經過各種處理功能得到的結果樣本，所述芯片自帶的處理功能的數量大于等于一。

4.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述將所述芯片中預設的預期結果樣本和所述結果樣本進行對比，包括：

根據所述結果樣本對應的待測樣本和所述結果樣本對應的處理功能，在芯片中預設的預期結果樣本庫中確定出相應的預期結果樣本；

對所述預期結果樣本和所述結果樣本進行相似度對比，計算出相似度。

5.如權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述根據對比的結果，分析出所述處理功能的測試結果，包括：

若所述相似度大于預設的相似度閾值，確認所述處理功能的測試結果為合格；

若所述相似度小于等于預設的相似度閾值，確認所述處理功能的測試結果為故障。

6.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括：

將所述處理的測試結果以多媒體的方式進行反饋，所述多媒體方式包括多種顏色的信號燈。

7.如權利要求1-6任一項所述的測試方法，其特征在于，還包括：

所述待測樣本包括圖像樣本，被測試的所述處理功能包括圖像處理功能。

8.一種芯片，其特征在于，所述芯片缺乏處理模塊的專用測試管腳，包括：

處理模塊，用于對所述芯片中預設的待測樣本進行處理，得到處理后的結果樣本；

比較模塊，用于將所述芯片中預設的預期結果樣本和所述結果樣本進行對比；

所述比較模塊，還用于根據對比的結果，分析出所述處理模塊的測試結果。

9.如權利要求8所述的芯片，其特征在于，還包括：

輸入復用模塊，用于根據測試指令將芯片調整為自測試模式和根據運行指令將芯片調整為正常運行模式。

10.如權利要求8所述的芯片，其特征在于，還包括：

預置選擇模塊，用于在芯片中預設的待測樣本庫中，根據指令選擇其中至少一個待測樣本；

所述處理模塊，還用于對所述待測樣本進行處理，得到相應的結果樣本，所述處理模塊中的處理功能的數量大于等于一。

11.如權利要求8所述的芯片，其特征在于，還包括：

預置正確結果選擇模塊，用于根據所述結果樣本對應的待測樣本和處理所述結果樣本的處理功能，在芯片中預設的預期結果樣本庫中確定出相應的預期結果樣本；

所述比較模塊，還用于對所述預期結果樣本和所述結果樣本進行相似度對比，計算出相似度。

12.如權利要求11所述的芯片，其特征在于，包括：

所述比較模塊，還用于若所述相似度大于預設的相似度閾值，確認所述處理模塊的測試結果為合格；若所述相似度小于等于預設的相似度閾值，確認所述處理模塊的測試結果為故障。