[發(fā)明專利]性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011507525.6
• 申請(qǐng)日: 2020-12-18
• 公開（公告）號(hào): CN112612686A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何品德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 平安普惠企業(yè)管理有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/34
• 分類號(hào): G06F11/34;G06F11/36
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng)

本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)，尤其涉及一種性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：獲取預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)為至少一種測(cè)試模式下得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到性能評(píng)價(jià)參數(shù)，所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)包括并發(fā)用戶數(shù)量和系統(tǒng)資源參數(shù)；根據(jù)所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)構(gòu)建數(shù)據(jù)處理模型；基于所述數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理模型和所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)確定性能拐點(diǎn)，并在所述數(shù)據(jù)處理模型中標(biāo)記出所述性能拐點(diǎn)。采用本申請(qǐng)實(shí)施例能夠依據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)確定測(cè)試拐點(diǎn)，從而，直觀得到設(shè)備性能參數(shù)，提升了性能測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

容量測(cè)試是性能測(cè)試過程中系統(tǒng)處于最大負(fù)載狀態(tài)或某項(xiàng)指標(biāo)達(dá)到所能接受的最大閾值下對(duì)請(qǐng)求的最大處理能力。該如何才能準(zhǔn)確而又短時(shí)間找到這個(gè)臨界點(diǎn)，對(duì)于壓測(cè)人員是一個(gè)過程長(zhǎng)而又冗余的過程，傳統(tǒng)的方案是在并發(fā)的基礎(chǔ)上以低用戶并發(fā)著手，持續(xù)增加并發(fā)用戶，直至系統(tǒng)出現(xiàn)瓶頸或最大處理能力不再上升為止，這樣針對(duì)可承載高并發(fā)的系統(tǒng)來說，無疑是對(duì)測(cè)試人員的一個(gè)漫長(zhǎng)的查找過程，在互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)，版本迭代頻繁的短周期下，很難在有限的周期內(nèi)，完成這樣一個(gè)需求。使用性能測(cè)試平臺(tái)創(chuàng)建測(cè)試場(chǎng)景，M用戶針對(duì)按照業(yè)務(wù)模型中交易占，實(shí)現(xiàn)各接口并發(fā)測(cè)試，且以M用戶為基準(zhǔn)，以X用戶為梯度遞增，每次增加后運(yùn)行場(chǎng)景10min，直至系統(tǒng)出現(xiàn)性能拐點(diǎn)。如何提升測(cè)試效率的問題亟待解決。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種性能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，能夠提升性能測(cè)試效率。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種性能測(cè)試方法，所述方法包括：

獲取預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)為至少一種測(cè)試模式下得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；

對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到性能評(píng)價(jià)參數(shù)，所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)包括并發(fā)用戶數(shù)量和系統(tǒng)資源參數(shù)；

根據(jù)所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)構(gòu)建數(shù)據(jù)處理模型；

基于所述數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理模型和所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)確定性能拐點(diǎn)，并在所述數(shù)據(jù)處理模型中標(biāo)記出所述性能拐點(diǎn)。

第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種性能測(cè)試裝置，所述裝置包括：獲取單元、處理單元、構(gòu)建單元和確定單元，其中，

所述獲取單元，用于獲取預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)為至少一種測(cè)試模式下得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；

所述處理單元，用于對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到性能評(píng)價(jià)參數(shù)，所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)包括并發(fā)用戶數(shù)量和系統(tǒng)資源參數(shù)；

所述構(gòu)建單元，用于根據(jù)所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)構(gòu)建數(shù)據(jù)處理模型；

所述確定單元，用于基于所述數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理模型和所述性能評(píng)價(jià)參數(shù)確定性能拐點(diǎn)，并在所述數(shù)據(jù)處理模型中標(biāo)記出所述性能拐點(diǎn)。

第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，包括處理器、存儲(chǔ)器、通信接口以及一個(gè)或多個(gè)程序，其中，上述一個(gè)或多個(gè)程序被存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)器中，并且被配置由上述處理器執(zhí)行，上述程序包括用于執(zhí)行本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面中的步驟的指令。

第四方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，上述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)用于電子數(shù)據(jù)交換的計(jì)算機(jī)程序，其中，上述計(jì)算機(jī)程序使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行如本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面中所描述的部分或全部步驟。

第五方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其中，上述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括存儲(chǔ)了計(jì)算機(jī)程序的非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，上述計(jì)算機(jī)程序可操作來使計(jì)算機(jī)執(zhí)行如本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面中所描述的部分或全部步驟。該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品可以為一個(gè)軟件安裝包。

實(shí)施本申請(qǐng)實(shí)施例，具備如下有益效果：