[發(fā)明專利]性能測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011507525.6
• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112612686A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 何品德
• 申請（專利權(quán)）人: 平安普惠企業(yè)管理有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/36
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

1.一種性能測試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的測試數(shù)據(jù)，所述測試數(shù)據(jù)為至少一種測試模式下得到的測試數(shù)據(jù)；

對所述測試數(shù)據(jù)進行處理，得到性能評價參數(shù)，所述性能評價參數(shù)包括并發(fā)用戶數(shù)量和系統(tǒng)資源參數(shù)；

根據(jù)所述性能評價參數(shù)構(gòu)建數(shù)據(jù)處理模型；

基于所述數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理模型和所述性能評價參數(shù)確定性能拐點，并在所述數(shù)據(jù)處理模型中標(biāo)記出所述性能拐點。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的測試數(shù)據(jù)，包括：

獲取測試項目；

依據(jù)所述測試項目確定相應(yīng)的數(shù)據(jù)標(biāo)識；

依據(jù)所述數(shù)據(jù)標(biāo)識從預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)庫中獲取所述預(yù)設(shè)時間段的測試數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對所述測試數(shù)據(jù)進行處理，得到性能評價參數(shù)，包括：

獲取所述目標(biāo)測試要求對應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)類型；

從所述測試數(shù)據(jù)中篩選出于所述目標(biāo)數(shù)據(jù)類型對應(yīng)的待處理數(shù)據(jù)；

對所述待處理數(shù)據(jù)進行處理，得到所述性能評價參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述待處理數(shù)據(jù)進行處理，得到所述性能評價參數(shù)，包括：

將所述待處理數(shù)據(jù)進行分類，得到多類數(shù)據(jù)，每類數(shù)據(jù)對應(yīng)一預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)處理規(guī)則；

對所述多類數(shù)據(jù)中的每類數(shù)據(jù)按照其對應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)處理規(guī)則進行處理，并將處理結(jié)果作為所述性能評價參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述基于所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)系和所述測試數(shù)據(jù)確定性能拐點，并在所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)系中標(biāo)記出所述性能拐點，包括：

依據(jù)所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)系和所述性能評價參數(shù)確定最佳并發(fā)用戶數(shù)和最大并發(fā)用戶數(shù)；

基于所述最佳并發(fā)用戶數(shù)和所述最大并發(fā)用戶數(shù)確定低負載區(qū)、高負載區(qū)和失效負載區(qū)；

基于所述低負載區(qū)、所述高負載區(qū)、所述失效負載區(qū)、所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)系和所述測試數(shù)據(jù)確定所述性能拐點。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的測試數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：

配置測試需求參數(shù)；

依據(jù)所述測試需求參數(shù)配置測試環(huán)境參數(shù)；

基于所述測試環(huán)境參數(shù)進行測試環(huán)境調(diào)試；

在所述測試環(huán)境滿足預(yù)設(shè)要求時，執(zhí)行所述獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的測試數(shù)據(jù)的步驟。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述測試環(huán)境參數(shù)進行測試環(huán)境調(diào)試，包括：

獲取目標(biāo)測試要求；

按照預(yù)設(shè)的測試要求與測試環(huán)境參數(shù)之間的映射關(guān)系，確定所述目標(biāo)測試要求對應(yīng)的預(yù)設(shè)測試環(huán)境參數(shù)；

將所述測試環(huán)境參數(shù)與所述預(yù)設(shè)測試環(huán)境參數(shù)進行比對；

在所述測試環(huán)境參數(shù)與所述測試環(huán)境參數(shù)比對成功時，確認所述測試環(huán)境滿足所述預(yù)設(shè)要求；

在所述測試環(huán)境參數(shù)與所述測試環(huán)境參數(shù)比對失敗時，確認所述測試環(huán)境不滿足所述預(yù)設(shè)要求。

8.一種性能測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：獲取單元、處理單元、構(gòu)建單元和確定單元，其中，

所述獲取單元，用于獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的測試數(shù)據(jù)，所述測試數(shù)據(jù)為至少一種測試模式下得到的測試數(shù)據(jù)；

所述處理單元，用于對所述測試數(shù)據(jù)進行處理，得到性能評價參數(shù)，所述性能評價參數(shù)包括并發(fā)用戶數(shù)量和系統(tǒng)資源參數(shù)；

所述構(gòu)建單元，用于根據(jù)所述性能評價參數(shù)構(gòu)建數(shù)據(jù)處理模型；

所述確定單元，用于基于所述數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理模型和所述性能評價參數(shù)確定性能拐點，并在所述數(shù)據(jù)處理模型中標(biāo)記出所述性能拐點。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器、存儲器，所述存儲器用于存儲一個或多個程序，并且被配置由所述處理器執(zhí)行，所述程序包括用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項所述的方法中的步驟的指令。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令當(dāng)被處理器執(zhí)行時使所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項所述的方法。