[發(fā)明專利]具有透明工件表面模式的計(jì)量系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011504114.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-18 | 
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113008789B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-10 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | R.K.布萊爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社三豐 | 
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/88 | 
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 邸萬(wàn)奎 | 
| 地址: | 日本神*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 | 
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 透明 工件 表面 模式 計(jì)量 系統(tǒng) | ||
一種設(shè)有透明工件表面模式的計(jì)量系統(tǒng),對(duì)于該計(jì)量系統(tǒng),該系統(tǒng)被配置為在沿著Z高度方向靠近工件的多個(gè)位置上改變聚焦位置。獲取圖像堆棧,其中圖像堆棧的每個(gè)圖像包括透明或半透明的第一表面(例如工件的上表面)以及通過(guò)第一表面至少部分可觀察的至少第二表面。基于圖像堆棧確定多個(gè)聚焦曲線(例如,其中利用圖案投影來(lái)提高對(duì)比度),對(duì)于該多個(gè)聚焦曲線,可以確定每個(gè)聚焦曲線中分別對(duì)應(yīng)于第一表面、第二表面等的第一局部聚焦峰、第二局部聚焦峰等。顯示包括所選擇表面的圖像,并且對(duì)于該圖像,可以測(cè)量所選擇/所顯示的表面的特征。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及精密計(jì)量,更具體地,涉及利用點(diǎn)形態(tài)聚焦(points from focus)和類似操作來(lái)檢查和測(cè)量工件表面的計(jì)量系統(tǒng)。
背景技術(shù)
諸如機(jī)器視覺(jué)檢查系統(tǒng)(或簡(jiǎn)稱“視覺(jué)系統(tǒng)”)的精密計(jì)量系統(tǒng)可用于物體的精確測(cè)量和檢查其他物體特性。這種系統(tǒng)可以包括計(jì)算機(jī)、照相機(jī)、光學(xué)系統(tǒng)和移動(dòng)以允許工件行進(jìn)的載物臺(tái)。一個(gè)典型的系統(tǒng),其特征為通用“離線(off-line)”精密視覺(jué)系統(tǒng),是可從位于伊利諾斯州奧若拉的三豐美國(guó)公司(Mitutoyo America Corporation,MAC)獲得的QUICK系列的基于PC的視覺(jué)系統(tǒng)以及軟件。QUICK系列的視覺(jué)系統(tǒng)以及軟件的特征和操作在例如2003年1月出版的《QVPAK 3D CNC視覺(jué)測(cè)量機(jī)用戶指南》中進(jìn)行了一般性描述,該指南通過(guò)整體引用并入本文。這種類型的系統(tǒng)使用顯微鏡類型的光學(xué)系統(tǒng)并移動(dòng)載物臺(tái)以便以各種放大率提供小型或大型工件的檢查圖像。
這種機(jī)器視覺(jué)檢查系統(tǒng)通常可編程為提供自動(dòng)化檢查。包括特定檢查事件序列(即順序的圖像采集設(shè)定(例如,位置、光照、放大率等)和如何分析/檢查每個(gè)圖像(例如,使用一個(gè)或多個(gè)視頻工具))的機(jī)器控制指令被存儲(chǔ)為特定于具體工件配置的“部件程序”或“工件程序”。
視頻工具(或簡(jiǎn)稱“工具”)和其他圖形用戶界面(GUI)功能允許“非專家”操作員進(jìn)行操作和編程。這些工具可以在“手動(dòng)模式”下手動(dòng)使用,和/或它們的參數(shù)和操作也可以在學(xué)習(xí)模式期間記錄,以便創(chuàng)建部件程序。視頻工具可以包括例如邊緣/邊界檢測(cè)工具、自動(dòng)聚焦工具、形狀或圖案匹配工具、尺寸測(cè)量工具等。美國(guó)專利第6,542,180號(hào)和第7,627,162號(hào)教導(dǎo)了包括使用視頻工具進(jìn)行檢查編程的視覺(jué)系統(tǒng),它們中的每一個(gè)通過(guò)整體引用并入本文。
一種已知類型的視頻工具是“多點(diǎn)工具”或“多點(diǎn)自動(dòng)聚焦工具”視頻工具。這種工具(和/或利用類似技術(shù)的各種其他過(guò)程)可以提供諸如通過(guò)自動(dòng)聚焦方法確定的、從工具的感興趣區(qū)域內(nèi)的定義的X-Y坐標(biāo)處多個(gè)子區(qū)域的“最佳聚焦”位置導(dǎo)出的Z高度測(cè)量值或坐標(biāo)(沿著照相機(jī)系統(tǒng)的光軸和聚焦軸)。一組這樣的X、Y、Z坐標(biāo)可以被稱為點(diǎn)云數(shù)據(jù),或簡(jiǎn)稱點(diǎn)云。通常,根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的自動(dòng)聚焦方法和/或工具,照相機(jī)沿著Z軸(聚焦軸)移動(dòng)通過(guò)一系列位置,并在每個(gè)位置處捕獲圖像(稱為圖像堆棧)。對(duì)于每個(gè)捕獲的圖像,基于該圖像并且與該圖像被捕獲時(shí)照相機(jī)沿著Z軸的對(duì)應(yīng)位置相關(guān)地計(jì)算每個(gè)子區(qū)域(即具有給定的X和Y坐標(biāo))的聚焦度量。這產(chǎn)生每個(gè)XY子區(qū)域的聚焦曲線數(shù)據(jù),其可以簡(jiǎn)單地稱為“聚焦曲線”或“自動(dòng)聚焦曲線”。可以通過(guò)將曲線擬合到聚焦曲線數(shù)據(jù)并估計(jì)所擬合曲線的峰來(lái)找到聚焦曲線的峰,聚焦曲線的峰對(duì)應(yīng)于沿Z軸的最佳聚焦位置。
利用根據(jù)這些技術(shù)獲取的數(shù)據(jù),可以顯示工件的各種類型的圖像。例如,可以利用如上所述的點(diǎn)云數(shù)據(jù)來(lái)顯示工件的三維(3D)圖像。作為另一示例,對(duì)于一些應(yīng)用,其可能希望顯示具有擴(kuò)展景深(extended depth of field,EDOF)的圖像,擴(kuò)展景深大于光學(xué)成像系統(tǒng)在單個(gè)聚焦位置提供的景深。一種用于構(gòu)建EDOF圖像的方法包括類似于上述一些技術(shù)的技術(shù),包括收集由聚焦在聚焦范圍內(nèi)的不同距離處的多個(gè)全等或?qū)?zhǔn)的圖像組成的圖像堆棧。合成圖像被構(gòu)建,其中視場(chǎng)的每個(gè)部分從顯示具有最佳聚焦(即根據(jù)聚焦曲線的峰來(lái)確定)的那個(gè)部分的特定圖像中提取。
對(duì)于某些類型的工件表面(例如,透明表面等),這種用于成像和測(cè)量表面的技術(shù)典型地面臨各種挑戰(zhàn)。希望有一種能夠適應(yīng)各種類型的工件表面的成像和測(cè)量的改進(jìn)系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





