[發(fā)明專利]一種巖礦處理裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011499841.3 | 申請日: | 2020-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN112557156A | 公開(公告)日: | 2021-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周杰強;張迎杰;嚴(yán)育紅;陳順佼 | 申請(專利權(quán))人: | 河南資環(huán)檢測科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N1/34 | 分類號: | G01N1/34;G01N1/44;G01N21/84;G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京酷愛智慧知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11514 | 代理人: | 胡林 |
| 地址: | 467000 河南省平頂山市市轄*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 處理 裝置 | ||
1.一種巖礦處理裝置,其特征在于:包括:平臺以及設(shè)于所述平臺上方的軌道,所述平臺上從左至右依次設(shè)置有取樣工位、清洗工位、干燥工位和檢測工位;其中,
所述軌道上設(shè)置有自行走移動件,所述自行走移動件可沿所述軌道開設(shè)方向移動并途經(jīng)所述取樣工位、清洗工位、干燥工位和檢測工位,所述自行走移動件的下端豎直設(shè)置有氣缸,所述氣缸的輸出端設(shè)置有用于夾持巖礦的夾具;
所述清洗工位和干燥工位分別用于對巖礦表面進(jìn)行清洗和干燥;
所述檢測工位包括設(shè)于所述平臺上的底部二維激光掃描儀和側(cè)部二維激光掃描儀。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述取樣工位包括設(shè)于所述平臺上的取樣板,所述取樣板用于放置巖礦。
3.據(jù)權(quán)利要求2所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述清洗工位包括設(shè)于所述平臺上的液體箱,所述液體箱的上端呈開口設(shè)置,液體箱內(nèi)設(shè)置有轉(zhuǎn)盤,所述轉(zhuǎn)盤的上端沿周向布置有多個刷毛,轉(zhuǎn)盤的下端豎直設(shè)置有轉(zhuǎn)軸,所述轉(zhuǎn)軸下端延伸出所述平臺并傳動連接有驅(qū)動電機。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述液體箱內(nèi)設(shè)置有清洗液,所述清洗液浸沒所述刷毛的下部。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述干燥工位包括設(shè)于所述平臺上表面的第一電熱干燥風(fēng)機以及豎直設(shè)于所述平臺上的立柱,所述立柱上設(shè)置有第二電熱干燥風(fēng)機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述第二電熱干燥風(fēng)機呈傾斜設(shè)置,以使其風(fēng)向?qū)?zhǔn)巖礦位于干燥工位時所在位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述底部二維激光掃描儀位于所述平臺上表面,以獲取巖礦的仰視圖像信息,所述平臺上還設(shè)置有安裝支架,所述側(cè)部二維激光掃描儀固設(shè)于所述安裝支架上,以獲取巖礦的側(cè)面圖像信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的巖礦處理裝置,其特征在于:還包括設(shè)于所述檢測工位右側(cè)的放樣板,所述放樣板固設(shè)于所述平臺上表面。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述夾具包括固定在所述氣缸輸出端的主體,設(shè)于所述主體下端的旋轉(zhuǎn)機構(gòu),設(shè)于所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)輸出端的橫撐,設(shè)于所述橫撐兩端的伸縮鉗腿以及設(shè)于所述伸縮鉗腿下端的夾鉤。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的巖礦處理裝置,其特征在于:所述自行走移動件包括自行走小車,所述自行走下車位于所述軌道下部,所述平臺上設(shè)置有軌道固定支架,所述軌道固定與所述軌道固定支架上并位于平臺橫軸線的正上方;
所述氣缸的上端固定在所述自行走小車上。
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