[發明專利]自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置及方法

在審

• 申請號: 202011494935.1
• 申請日: 2020-12-17
• 公開（公告）號: CN112684318A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 薛超;田濤
• 申請（專利權）人: 聚辰半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海元好知識產權代理有限公司 31323
• 代理人: 包姝晴;張靜潔

1.一種自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，包含：待測試的自舉型半橋驅動電路、采樣單元、比較單元、升壓單元；

所述待測試的自舉型半橋驅動電路包含：HB腳、HO腳、HS腳、LO腳、GND腳、HI腳、LI腳，GND腳接地；

所述升壓單元的輸入端連接功率電源PVDD，升壓單元的輸出端連接所述HS腳；通過升壓單元生成用于測試半橋驅動電路共模電壓變換率的沖擊電流；通過測試升壓單元輸出端與HS腳之間的連接點的共模電壓變化率獲取半橋驅動電路的共模電壓變化率耐受范圍，并通過升壓單元保證半橋驅動電路的共模電壓變化率在安全耐受范圍；

所述采樣單元的輸入端連接升壓單元，采集升壓單元的工作電流Is，通過采樣單元用于對所述工作電流Is進行采樣，生成采樣電流V_1；

所述比較單元的輸入端連接采樣單元的輸出端，比較單元的輸出端連接升壓單元；當比較單元判斷V_1落在升壓單元安全工作電流范圍內，時，比較單元生成用于驅動升壓單元工作的驅動信號PWM_GDV；比較單元還用于調節所述升壓單元安全工作電流范圍。

2.如權利要求1所述的自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，所述采樣單元包含運算放大器OPA，電阻R1、R2、R3；電阻R1的第一端連接升壓單元，獲取所述工作電流IS，電阻R1的第二端連接運算放大器OPA輸入端的負極、電阻R2的第一端；電阻R3的第一端接地，電阻R3的第二端、電阻R4的第一端連接運算放大器OPA輸入端的正極；電阻R2的第二端連接運算放大器OPA的輸出端；電阻R4的第二端連接偏移電壓V_Offset。

3.如權利要求1所述的自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，所述比較單元包含比較器COMP1、COMP2，電阻R5、R6、R7、Rd1、Rd2，可調電阻Rp1、Rp2，與門AND；電阻R5連接設置在運算放大器OPA的輸出端與比較器COMP1輸入端的負極之間；電阻Rd1的第一端接地，可調電阻Rp1的第一端接參考電壓V_Ref；電阻Rd1的第二端、可調電阻Rp1的第二端連接比較器COMP1輸入端的正極；電阻R6連接設置在運算放大器OPA的輸出端與比較器COMP2輸入端的正極之間；電阻Rd2的第一端接地，可調電阻Rp2的第二端接參考電壓V_Ref，電阻Rd2的第二端、可調電阻Rp2的第二端連接比較器COMP2輸入端的負極；比較器COMP1、COMP2的輸出端通過電阻R7連接電壓VCC；比較器COMP1、COMP2的輸出端均連接與門AND的第一輸入端，與門AND的第二輸入端連接脈寬調制信號PWM1；當V_1落在所述升壓單元安全工作電流范圍內，與門AND生成所述驅動信號PWM_GDV。

4.如權利要求3所述的自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，所述電壓VCC和與門AND的電壓匹配，所述調制信號PWM1的占空比為50％。

5.如權利要求1所述的自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，所述升壓單元包含：電感L，電阻Rg1、Rg2，采樣電阻Rs，NMOS管Q1、Q2，驅動單元LSGD；

電感L的第一端連接功率電源PVDD，電感L的第二端通過電阻Rg1連接NMOS管Q1的柵極，電感L的第二端連接NMOS管Q1的源極、NMOS管Q2的漏極和所述HS腳；

驅動單元LSGD的第一端連接與門AND的輸出端，驅動單元LSGD的第二端通過電阻Rg2連接NMOS管Q2的柵極，驅動單元LSGD的第三端接地；NMOS管Q2的源極連接采樣電阻Rs的第一端、電阻R1的第一端；采樣電阻Rs的第二端接地；NMOS管Q2的源極電流為所述工作電流Is。

6.如權利要求1所述的自舉型半橋驅動器共模電壓變化率耐受測試裝置，其特征在于，還包含輸入開關S1，連接設置在功率電源PVDD與電感L的第一端之間。