[發明專利]一種芯片FT測試系統以及測試方法

在審

• 申請號: 202011493343.8
• 申請日: 2020-12-17
• 公開（公告）號: CN112799887A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 許錦海;唐振中;江華彬;李應浪;黃立偉;李興祥
• 申請（專利權）人: 珠海泰芯半導體有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/28
• 代理公司: 廣東朗乾律師事務所 44291
• 代理人: 閆有幸

1.一種芯片FT測試系統，包括自動測試設備ATE、待測芯片，所述待測芯片具有測試端口；其特征在于，還包括主機；所述主機存儲有芯片測試用的全部測試pattern；所述主機通過所述測試端口傳送所述測試pattern給所述待測芯片；所述自動測試設備ATE與所述主機通信連接，所述自動測試設備ATE與所述待測芯片通信連接。

2.一種應用權利要求1的測試系統的芯片FT測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、預先將待測芯片的所有測試pattern燒寫到所述主機的內存中；

S2、建立所述主機與所述待測芯片的通信連接；

S3、所述主機接收所述自動測試設備ATE的一個測試指令；

S4、所述主機判斷所述測試指令是否實施過測試，如果該測試指令沒有實施過測試，則執行下一步；如果實施過測試，則繼續執行步驟S3；

S5、所述主機將測試指令所對應的測試pattern通過所述待測芯片的所述測試端口傳送至所述待測芯片的內存中；

S6、所述待測芯片開始運行測試pattern以實施測試。

3.根據權利要求2所述的芯片FT測試方法，其特征在于，步驟S2具體包括：所述自動測試設備ATE發送交互指令給所述主機，所述主機初始化所述待測芯片與所述主機交互的測試總線，之后所述主機發送連接命令到所述待測芯片，所述主機收到所述待測芯片的反饋ACK指令后表示主機與待測芯片連接成功。

4.根據權利要求3所述的芯片FT測試方法，其特征在于，步驟S2之后、步驟S3之前，還包括所述主機鎖定待測芯片的CPU的步驟；

步驟S5之后、步驟S6之前還包括所述主機釋放所述待測芯片的CPU的步驟。

5.根據權利要求3所述的芯片FT測試方法，其特征在于，步驟S3具體包括所述自動測試設備ATE根據芯片FT測試設計的順序發送一個測試命令給所述主機。

6.根據權利要求5所述的芯片FT測試方法，其特征在于，所述主機預先存儲測試指令與測試pattern地址信息以及測試pattern的長度信息的映射，其中測試pattern地址信息指的是主機的內存中存儲的地址；所述主機收到測試指令后，對測試指令進行解析，將所述測試指令轉換成相應的測試pattern的地址信息及測試pattern長度信息；所述主機根據地址信息、長度信息發送數據給所述待測芯片。

7.根據權利要求2所述的芯片FT測試方法，其特征在于，步驟S6之后還包括：

S7、所述待測芯片運行完測試pattern后將測試結果發送給所述自動測試設備ATE，所述自動測試設備ATE接收到測試結果后，判斷測試結果是否合格；

如果測試結果為合格，則自動測試設備ATE判斷測試是否完成，如果完成，則表示測試結束，最終的測試結果為通過；如果沒有完成，則繼續執行步驟S3；

如果測試結果為不合格，則結束測試，最終測試結果為失敗。