[發明專利]規格信息數據庫創建方法、芯片挑選方法及裝置和系統

在審

• 申請號: 202011492502.2
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112612660A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 張太白
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F16/22;G06F16/2457
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 張仲波

本發明的實施例公開一種規格信息數據庫創建方法、芯片挑選方法及裝置和系統，包括：獲取對待劃分芯片進行芯片測試得到的測試數據，并基于待劃分芯片的測試數據，按照預設的多個產品規格的產品規格定義，對待劃分芯片進行規格劃分，得到表示待劃分芯片是否滿足每個產品規格的芯片規格信息，以及在規格信息數據庫中存儲待劃分芯片的芯片規格信息。采用本方案，提高了芯片挑選的便利性。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域中的芯片技術領域，尤其涉及一種規格信息數據庫創建方法、芯片挑選方法及裝置和系統。

背景技術

隨著計算機技術以及芯片技術的快速發展，對于芯片的使用越來越廣泛，且芯片的使用需求也是多種多樣，因此，在實際應用中，針對出廠的各種芯片，需要按照使用需求選擇出滿足條件的芯片。

通常，針對中央處理器(Central Processing Unit，CPU)或圖形處理器(GraphicsProcessing Unit，GPU)，可以按照用戶需求，在芯片測試階段按照核心數/功耗/頻率進行產品性能的分類，以便用戶挑選出滿足自身需求的芯片。

目前，用戶每次按照需求挑選芯片時，均要按照需求對芯片進行一次測試，導致用戶挑選芯片很不方便。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供一種規格信息數據庫創建方法、芯片挑選方法及裝置和系統，用以解決目前存在的挑選芯片不夠方便的問題。

第一方面，本發明實施例提供一種芯片的規格信息數據庫創建方法，應用于規格劃分服務器，所述方法包括：

獲取對待劃分芯片進行芯片測試得到的測試數據；

基于所述待劃分芯片的所述測試數據，按照預設的多個產品規格的產品規格定義，對所述待劃分芯片進行規格劃分，得到表示所述待劃分芯片是否滿足每個所述產品規格的芯片規格信息；

在規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述芯片規格信息。

根據本發明實施例的一種具體實現方式，在所述在規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述芯片規格信息之后，還包括：

當存在新增的產品規格時，基于所述待劃分芯片的所述測試數據，按照所述新增的產品規格的產品規格定義，對所述待劃分芯片進行規格劃分，得到表示所述待劃分芯片是否滿足所述新增的產品規格的芯片規格信息，作為新增的芯片規格信息；

在所述規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述新增的芯片規格信息。

根據本發明實施例的一種具體實現方式，在所述在規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述芯片規格信息之后，還包括：

獲取對所述待劃分芯片進行新的芯片測試得到的新的測試數據；

基于所述待劃分芯片的所述新的測試數據，按照預設的多個產品規格的產品規格定義，對所述待劃分芯片進行規格劃分，得到表示所述待劃分芯片是否滿足每個所述產品規格的新的芯片規格信息；

在所述規格信息數據庫中，使用所述待劃分芯片的所述新的芯片規格信息，更新所述待劃分芯片的所述芯片規格信息。

根據本發明實施例的一種具體實現方式，在所述在規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述芯片規格信息之后，還包括：

獲取對所述待劃分芯片進行新的芯片測試得到的表示新指標的新的測試數據；

基于所述待劃分芯片的所述新的測試數據，按照新增的產品規格的產品規格定義，對所述待劃分芯片進行規格劃分，得到表示所述待劃分芯片是否滿足所述新增的產品規格的芯片規格信息，作為新增的芯片規格信息；

在所述規格信息數據庫中存儲所述待劃分芯片的所述新增的芯片規格信息。