[發(fā)明專利]規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)創(chuàng)建方法、芯片挑選方法及裝置和系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011492502.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112612660A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?zhí)?/a> | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 海光信息技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22;G06F16/22;G06F16/2457 |
| 代理公司: | 北京市廣友專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 11237 | 代理人: | 張仲波 |
| 地址: | 300000 天津市濱海新區(qū)天津華苑*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 規(guī)格 信息 數(shù)據(jù)庫(kù) 創(chuàng)建 方法 芯片 挑選 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種芯片的規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)創(chuàng)建方法,應(yīng)用于規(guī)格劃分服務(wù)器,其特征在于,所述方法包括:
獲取對(duì)待劃分芯片進(jìn)行芯片測(cè)試得到的測(cè)試數(shù)據(jù);
基于所述待劃分芯片的所述測(cè)試數(shù)據(jù),按照預(yù)設(shè)的多個(gè)產(chǎn)品規(guī)格的產(chǎn)品規(guī)格定義,對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行規(guī)格劃分,得到表示所述待劃分芯片是否滿足每個(gè)所述產(chǎn)品規(guī)格的芯片規(guī)格信息;
在規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述在規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息之后,還包括:
當(dāng)存在新增的產(chǎn)品規(guī)格時(shí),基于所述待劃分芯片的所述測(cè)試數(shù)據(jù),按照所述新增的產(chǎn)品規(guī)格的產(chǎn)品規(guī)格定義,對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行規(guī)格劃分,得到表示所述待劃分芯片是否滿足所述新增的產(chǎn)品規(guī)格的芯片規(guī)格信息,作為新增的芯片規(guī)格信息;
在所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述新增的芯片規(guī)格信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述在規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息之后,還包括:
獲取對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行新的芯片測(cè)試得到的新的測(cè)試數(shù)據(jù);
基于所述待劃分芯片的所述新的測(cè)試數(shù)據(jù),按照預(yù)設(shè)的多個(gè)產(chǎn)品規(guī)格的產(chǎn)品規(guī)格定義,對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行規(guī)格劃分,得到表示所述待劃分芯片是否滿足每個(gè)所述產(chǎn)品規(guī)格的新的芯片規(guī)格信息;
在所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中,使用所述待劃分芯片的所述新的芯片規(guī)格信息,更新所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述在規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息之后,還包括:
獲取對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行新的芯片測(cè)試得到的表示新指標(biāo)的新的測(cè)試數(shù)據(jù);
基于所述待劃分芯片的所述新的測(cè)試數(shù)據(jù),按照新增的產(chǎn)品規(guī)格的產(chǎn)品規(guī)格定義,對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行規(guī)格劃分,得到表示所述待劃分芯片是否滿足所述新增的產(chǎn)品規(guī)格的芯片規(guī)格信息,作為新增的芯片規(guī)格信息;
在所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述新增的芯片規(guī)格信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述待劃分芯片為經(jīng)過(guò)所述芯片測(cè)試后選出的非功能次品;或者
所述待劃分芯片為封裝前經(jīng)過(guò)晶圓測(cè)試后選出的非功能次品;或者
所述待劃分芯片為封裝前經(jīng)過(guò)晶圓測(cè)試和所述芯片測(cè)試后選出的非功能次品。
6.一種芯片挑選方法,其特征在于,包括:
獲取用于挑選芯片的規(guī)格要求;
按照所述規(guī)格要求,查詢規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的各芯片的芯片規(guī)格信息,得到滿足所述規(guī)格要求的芯片,所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的芯片的所述芯片規(guī)格信息,表示該芯片是否滿足多個(gè)產(chǎn)品規(guī)格中的每個(gè)所述產(chǎn)品規(guī)格。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,還包括:
基于所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的各芯片的芯片規(guī)格信息,從所述規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中,查詢出對(duì)于每個(gè)所述產(chǎn)品規(guī)格均不滿足的芯片。
8.一種芯片的規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)創(chuàng)建裝置,應(yīng)用于規(guī)格劃分服務(wù)器,其特征在于,所述裝置包括:
數(shù)據(jù)獲取模塊,用于獲取對(duì)待劃分芯片進(jìn)行芯片測(cè)試得到的測(cè)試數(shù)據(jù);
規(guī)格劃分模塊,用于基于所述待劃分芯片的所述測(cè)試數(shù)據(jù),按照預(yù)設(shè)的多個(gè)產(chǎn)品規(guī)格的產(chǎn)品規(guī)格定義,對(duì)所述待劃分芯片進(jìn)行規(guī)格劃分,得到表示所述待劃分芯片是否滿足每個(gè)所述產(chǎn)品規(guī)格的芯片規(guī)格信息;
信息存儲(chǔ)模塊,用于在規(guī)格信息數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)所述待劃分芯片的所述芯片規(guī)格信息。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 信息記錄介質(zhì)、信息記錄方法、信息記錄設(shè)備、信息再現(xiàn)方法和信息再現(xiàn)設(shè)備
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