[發明專利]電子鎖面板質量檢測方法、系統、計算機裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202011487358.3
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112508925B
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 陳從桂;張浩;黎鑫澤;朱春錦;侯浩佳;朱健業
• 申請（專利權）人: 廣州大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 常柯陽

1.一種電子鎖面板質量檢測方法，其特征在于，包括：

獲取所述電子鎖面板的圖像；

對所述電子鎖面板的圖像進行blob分析，確定所述電子鎖面板的圖像上的至少一個感興趣區域；所述感興趣區域為存在孔洞的區域；

獲取第二區域；所述第二區域為對所述感興趣區域進行凸性轉換的結果；

獲取第三區域；所述第三區域為對所述第二區域進行孔洞位置信息的標記的結果；

根據所述第二區域，對所述第三區域執行差分運算；

獲取第四區域；所述第四區域為對所述電子鎖面板的圖像進行區域分割的結果；所述區域分割包括依次進行的連通域分割、面積特征選擇、凸性轉換和仿射變換；

獲取第五區域；所述第五區域為對所述第三區域和所述第四區域進行交集運算的結果；

根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果；

所述獲取所述電子鎖面板的圖像，包括：

拍攝獲取所述電子鎖面板的RGB圖像；

將所述RGB圖像轉換為單通道灰度圖像；

通過blob分析將所述單通道灰度圖像轉正；

對所述單通道灰度圖像進行二值化；

所述獲取第三區域，包括：

對所述第二區域依次進行區域角度值求取、面積計算、中心點行列坐標計算和仿射變換，獲得所述第三區域。

2.根據權利要求1所述的電子鎖面板質量檢測方法，其特征在于，所述根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果，包括：

當所述第五區域的面積大于面積閾值，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果為不合格。

3.根據權利要求1或2所述的電子鎖面板質量檢測方法，其特征在于，所述根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果，包括：

當所述第五區域的面積不大于面積閾值，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果為合格。

4.根據權利要求1所述的電子鎖面板質量檢測方法，其特征在于，所述第五區域為所述第三區域和所述第四區域的交集。

5.一種電子鎖面板質量檢測系統，其特征在于，包括：

第一模塊，用于獲取所述電子鎖面板的圖像；

第二模塊，用于對所述電子鎖面板的圖像進行blob分析，確定所述電子鎖面板的圖像上的至少一個感興趣區域；所述感興趣區域為存在孔洞的區域；

第三模塊，用于獲取第二區域；所述第二區域為對所述感興趣區域進行凸性轉換的結果；

第四模塊，用于獲取第三區域；所述第三區域為對所述第二區域進行孔洞位置信息的標記的結果；

第五模塊，用于根據所述第二區域，對所述第三區域執行差分運算；

第六模塊，用于獲取第四區域；所述第四區域為對所述電子鎖面板的圖像進行區域分割的結果；所述區域分割包括依次進行的連通域分割、面積特征選擇、凸性轉換和仿射變換；

第七模塊，用于獲取第五區域；所述第五區域為對所述第三區域和所述第四區域進行交集運算的結果；

第八模塊，用于根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果；

所述獲取所述電子鎖面板的圖像，包括：

拍攝獲取所述電子鎖面板的RGB圖像；

將所述RGB圖像轉換為單通道灰度圖像；

通過blob分析將所述單通道灰度圖像轉正；

對所述單通道灰度圖像進行二值化；

所述獲取第三區域，包括：

對所述第二區域依次進行區域角度值求取、面積計算、中心點行列坐標計算和仿射變換，獲得所述第三區域。

6.一種計算機裝置，其特征在于，包括存儲器和處理器，所述存儲器用于存儲至少一個程序，所述處理器用于加載所述至少一個程序以執行權利要求1-4任一項所述方法。

7.一種存儲介質，其中存儲有處理器可執行的程序，其特征在于，所述處理器可執行的程序在由處理器執行時用于執行如權利要求1-4任一項所述方法。