[發明專利]電子鎖面板質量檢測方法、系統、計算機裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202011487358.3
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112508925B
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 陳從桂;張浩;黎鑫澤;朱春錦;侯浩佳;朱健業
• 申請（專利權）人: 廣州大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 常柯陽

本發明公開了一種電子鎖面板質量檢測方法、系統、計算機裝置和存儲介質，質量檢測方法包括對電子鎖面板的圖像進行blob分析，確定感興趣區域，進行凸性轉換、孔洞位置信息的標記、差分運算、區域分割和交集運算等處理獲得第五區域，根據第五區域的面積確定電子鎖面板的孔洞質量檢測結果等步驟。本發明能夠將電子鎖面板的圖像中的孔洞的信息轉換成為相應區域的面積信息，從而能夠以較高準確率判斷電子鎖面板存在的孔洞的嚴重性，確定電子鎖面板的質量檢測結果，本發明能夠通過自動化檢測設備執行，通過減少人工參與，提高檢測效率，減少漏檢和誤檢等情況的出現，保持較高的檢測穩定性。本發明廣泛應用于圖像處理技術領域。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，尤其是一種電子鎖面板質量檢測方法、系統、計算機裝置和存儲介質。

背景技術

電子鎖是一種新式鎖具，其安全性能高、使用便捷。電子鎖的面板能夠產生防護作用，電子鎖面板的質量關系到電子鎖的安全性能。在電子鎖面板的生產過程中產生的孔洞是其中一種降低電子鎖面板質量的因素，因此需要根據電子鎖面板上存在孔洞的情況來評價電子鎖面板的質量。現有技術中，主要是在電子鎖裝配過程中依靠人工觀察電子鎖面板進行孔洞檢測，這種檢測方式效率低，容易出現漏檢和誤檢的情況。

發明內容

針對上述至少一個技術問題，本發明的目的在于提供一種電子鎖面板質量檢測方法、系統、計算機裝置和存儲介質。

一方面，本發明實施例包括一種電子鎖面板質量檢測方法，包括：

獲取所述電子鎖面板的圖像；

對所述電子鎖面板的圖像進行blob分析，確定所述電子鎖面板的圖像上的至少一個感興趣區域；所述感興趣區域為存在孔洞的區域；

獲取第二區域；所述第二區域為對所述感興趣區域進行凸性轉換的結果；

獲取第三區域；所述第三區域為對所述第二區域進行孔洞位置信息的標記的結果；

根據所述第二區域，對所述第三區域執行差分運算；

獲取第四區域；所述第四區域為對所述電子鎖面板的圖像進行區域分割的結果；

獲取第五區域；所述第五區域為對所述第三區域和所述第四區域進行交集運算的結果；

根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果。

進一步地，所述根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果，包括：

當所述第五區域的面積大于面積閾值，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果為不合格。

進一步地，所述根據所述第五區域的面積，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果，包括：

當所述第五區域的面積不大于面積閾值，確定所述電子鎖面板的孔洞質量檢測結果為合格。

進一步地，所述獲取所述電子鎖面板的圖像，包括：

拍攝獲取所述電子鎖面板的RGB圖像；

將所述RGB圖像轉換為單通道灰度圖像；

通過blob分析將所述單通道灰度圖像轉正；

對所述單通道灰度圖像進行二值化。

進一步地，所述獲取第三區域，包括：

對所述第二區域依次進行區域角度值求取、面積計算、中心點行列坐標計算和仿射變換，獲得所述第三區域。

進一步地，所述區域分割包括依次進行的連通域分割、面積特征選擇、凸性轉換和仿射變換。

進一步地，所述第五區域為所述第三區域和所述第四區域的交集。