[發(fā)明專利]爐管工藝的派工優(yōu)化方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011486070.4 | 申請日: | 2020-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN112614795B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王帝;陳旭;魏崢穎 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
| 地址: | 201315*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 爐管 工藝 優(yōu)化 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種爐管工藝的派工優(yōu)化方法,包括:對所有晶圓按照機臺允許存放的位置的不同進行分組;采集和預(yù)測晶圓到達(dá)爐管站點的時間;根據(jù)晶圓的分組信息,生成第一批次晶圓內(nèi)的所有晶圓的派工方案,以形成方案池;依次生成每一批次晶圓的方案池,每一批次晶圓的方案池都基于上一批次的方案池所生成,當(dāng)某一批次晶圓具有兩種或兩種以上相同的派工方案時,保留優(yōu)勢派工方案,淘汰劣勢派工方案,被淘汰的派工方案不能參與下一批次晶圓的方案池的形成;對所有批次晶圓進行方案池生成和派工方案淘汰,最后保留一個派工方案。本發(fā)明可以減少人工派工時間,減少因人工失誤導(dǎo)致晶圓派工出錯的幾率,并且可以提高機臺使用效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種爐管工藝的派工優(yōu)化方法。
背景技術(shù)
爐管工藝機臺存在多個放置晶圓的位置,由于放置位置會影響晶圓的物理和化學(xué)特性,因此生產(chǎn)過程中對不同產(chǎn)品和類型的晶圓在爐管機臺的放置位置有著嚴(yán)格的要求。現(xiàn)有技術(shù)中使用的人工按現(xiàn)有規(guī)則將不同類型的晶圓分放到不同位置,然而這種方法可能因人為疏忽導(dǎo)致放置錯誤。并且由于人工在派工過程中考慮不全面,不充分,會導(dǎo)致派工不合理而導(dǎo)致機臺產(chǎn)能浪費。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種爐管工藝的派工優(yōu)化方法,可以減少人工,可以節(jié)省時間,從而可以提高出貨效率,并且還能減少晶圓存放出錯的幾率。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種爐管工藝的派工優(yōu)化方法,用于對多個晶圓在進行爐管工藝時的派工方法進行優(yōu)化,包括:
對所有晶圓按照機臺允許存放的位置的不同進行分組;
采集和預(yù)測晶圓到達(dá)爐管站點的時間,參照晶圓生產(chǎn)等級,以先進先出的原則確定晶圓的派工順序;
根據(jù)晶圓的分組信息,生成第一批次晶圓內(nèi)的所有晶圓的派工方案,所有派工方案形成方案池;
根據(jù)派工順序依次生成每一批次晶圓的方案池,每一批次晶圓的方案池都基于上一批次的方案池所生成,當(dāng)某一批次晶圓具有兩種或兩種以上相同的派工方案時,對相同的派工方案進行比較,保留優(yōu)勢派工方案,淘汰劣勢派工方案,被淘汰的派工方案不能參與下一批次晶圓的方案池的形成;
對所有批次晶圓進行方案池生成和派工方案淘汰,最后保留一個派工方案。
可選的,在所述的爐管工藝的派工優(yōu)化方法中,對所有晶圓按照機臺允許存放的位置的不同進行分組的方法包括:
獲取不同產(chǎn)品的晶圓在爐管站點的允許存放的位置;
按照允許存放的位置依次對工單內(nèi)的晶圓進行標(biāo)記;
將工單內(nèi)標(biāo)記一致的晶圓分為同一組。
可選的,在所述的爐管工藝的派工優(yōu)化方法中,按照允許存放的位置依次對工單內(nèi)的晶圓進行標(biāo)記的方法包括:若能存放在機臺某一位置的格子內(nèi),則標(biāo)記為1,若不能存放在機臺某一位置的格子內(nèi),則標(biāo)記為0;依次判斷完所有晶圓,以得到完整標(biāo)記。
可選的,在所述的爐管工藝的派工優(yōu)化方法中,將工單內(nèi)標(biāo)記一致的晶圓分為同一組的方法包括:將完整標(biāo)記相同的晶圓分為同一組。
可選的,在所述的爐管工藝的派工優(yōu)化方法中,每一個位置的格子最多能夠放12片或13片晶圓。
可選的,在所述的爐管工藝的派工優(yōu)化方法中,采集和預(yù)測晶圓到達(dá)爐管站點的時間,在考慮晶圓生產(chǎn)等級的基礎(chǔ)上,以先進先出的原則確定組內(nèi)晶圓的派工順序的方法包括:
以爐管站點當(dāng)站和爐管站點前幾個站點的晶圓信息為基礎(chǔ),獲取晶圓到達(dá)爐管站點時間;
考慮晶圓生產(chǎn)等級,以先進先出的原則確定派工順序。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





