[發(fā)明專利]觸摸屏均勻性的檢測方法、裝置和計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011484314.5 | 申請日: | 2020-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN112596628A | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田舒韻 | 申請(專利權(quán))人: | 南昌歐菲顯示科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 邵泳城 |
| 地址: | 330013 江西省南昌*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 觸摸屏 均勻 檢測 方法 裝置 計算機(jī) 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開了一種觸摸屏均勻性的檢測方法、裝置和計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),觸摸屏包括多個目標(biāo)像素,檢測方法包括:測量每個目標(biāo)像素的電容值;利用多個目標(biāo)像素的電容值得到差值矩陣;利用差值矩陣和設(shè)定的電容參考值計算得到每個目標(biāo)像素的電容均勻性;根據(jù)多個目標(biāo)像素的電容均勻性確定觸摸屏的均勻性。本發(fā)明實(shí)施方式的檢測方法中,通過每個像素的電容值來計算每個像素的電容均勻性,并利用像素的電容均勻性來確定觸摸屏的均勻性,可以實(shí)現(xiàn)對觸摸屏均勻性的檢測。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及觸摸屏技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種觸摸屏均勻性的檢測方法、裝置和計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
目前,觸摸屏被廣泛地應(yīng)用于人機(jī)交互的輸入/輸出界面。在相關(guān)技術(shù)中,觸摸屏包括面板和位于面板下方的傳感器,傳感器的功能檢測包括產(chǎn)品均勻性檢測,是一種直接收集記錄觸摸屏電性參數(shù)的方式。因此,有必要提供一種觸摸屏均勻性的檢測方法和裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施方式提供了一種觸摸屏均勻性的檢測方法、裝置和計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)。
本發(fā)明實(shí)施方式的觸摸屏均勻性的檢測方法,所述觸摸屏包括目標(biāo)區(qū)域,所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)有多個目標(biāo)像素,其特征在于,所述檢測方法包括:測量每個所述目標(biāo)像素的電容值;利用多個所述目標(biāo)像素的電容值得到差值矩陣;利用所述差值矩陣和設(shè)定的電容參考值計算得到每個所述目標(biāo)像素的電容均勻性;根據(jù)所述多個目標(biāo)像素的電容均勻性確定所述目標(biāo)區(qū)域的均勻性。
本發(fā)明實(shí)施方式的檢測方法中,通過每個像素的電容值來計算每個像素的電容均勻性,并利用像素的電容均勻性來確定觸摸屏目標(biāo)區(qū)域的均勻性,可以實(shí)現(xiàn)對觸摸屏均勻性的檢測。
在某些實(shí)施方式中,所述利用多個所述目標(biāo)像素的電容值得到差值矩陣,包括:
對每個所述目標(biāo)像素的電容值進(jìn)行擬合處理以獲取每個所述目標(biāo)像素的電容擬合值;
利用所述多個目標(biāo)像素的電容擬合值計算得到電容擬合結(jié)果矩陣;
利用所述電容擬合結(jié)果矩陣和所述多個目標(biāo)像素的電容值計算所述差值矩陣。
如此,可方便直接獲得差值矩陣。
在某些實(shí)施方式中,所述擬合處理包括線性擬合處理。
如此,通過線性擬合可以將電容值擬合,得到每個目標(biāo)像素的電容擬合值,并且線性擬合速度快、可解釋性好。
在某些實(shí)施方式中,所述多個目標(biāo)像素包括多個第一目標(biāo)像素和多個第二目標(biāo)像素,所述多個第一目標(biāo)像素沿第一方向排列,所述多個第二目標(biāo)像素沿第二方向排列,所述第一方向不同于所述第二方向,所述利用所述多個目標(biāo)像素的電容擬合值計算得到電容擬合結(jié)果矩陣,包括:利用所述多個第一目標(biāo)像素的電容擬合值計算得到第一電容擬合結(jié)果矩陣;利用所述多個第二目標(biāo)像素的電容擬合值計算得到第二電容擬合結(jié)果矩陣;根據(jù)所述第一電容擬合結(jié)果矩陣和所述第二電容擬合結(jié)果矩陣計算得到所述電容擬合結(jié)果矩陣。
如此,可以通過不同方向上的兩個擬合結(jié)果矩陣計算得到最終電容擬合結(jié)果矩陣,減小擬合值誤差。
在某些實(shí)施方式中,所述根據(jù)所述第一電容擬合結(jié)果矩陣和所述第二電容擬合結(jié)果矩陣計算得到所述電容擬合結(jié)果矩陣,包括:計算所述第一電容擬合結(jié)果矩陣和所述第二電容擬合結(jié)果矩陣的平均值作為所述電容擬合結(jié)果矩陣。
如此,最終的電容擬合結(jié)果矩陣各個位置的電容擬合值精確性更高。
在某些實(shí)施方式中,所述根據(jù)所述多個目標(biāo)像素的電容均勻性確定所述目標(biāo)區(qū)域的均勻性,包括:判斷所述多個目標(biāo)像素的電容均勻性是否位于預(yù)設(shè)范圍;在所述多個目標(biāo)像素的電容均勻性均位于所述預(yù)設(shè)范圍時,確定所述目標(biāo)區(qū)域均勻性為合格;在所述多個目標(biāo)像素的電容均勻性中的至少一個未位于所述預(yù)設(shè)范圍時,確定所述目標(biāo)區(qū)域的均勻性為不合格。
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G06F3-05 .在規(guī)定的時間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出





