[發明專利]觸摸屏均勻性的檢測方法、裝置和計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011484314.5
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112596628A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 田舒韻
• 申請（專利權）人: 南昌歐菲顯示科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 邵泳城

1.一種觸摸屏均勻性的檢測方法，所述觸摸屏包括目標區域，所述目標區域內有多個目標像素，其特征在于，所述檢測方法包括：

測量每個所述目標像素的電容值；

利用多個所述目標像素的電容值得到差值矩陣；

利用所述差值矩陣和設定的電容參考值計算得到每個所述目標像素的電容均勻性；

根據所述多個目標像素的電容均勻性確定所述目標區域的均勻性。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述利用多個所述目標像素的電容值得到差值矩陣，包括：

對每個所述目標像素的電容值進行擬合處理以獲取每個所述目標像素的電容擬合值；

利用所述多個目標像素的電容擬合值計算得到電容擬合結果矩陣；

利用所述電容擬合結果矩陣和所述多個目標像素的電容值計算所述差值矩陣。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述擬合處理包括線性擬合處理。

4.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于，所述多個目標像素包括多個第一目標像素和多個第二目標像素，所述多個第一目標像素沿第一方向排列，所述多個第二目標像素沿第二方向排列，所述第一方向不同于所述第二方向，

所述利用所述多個目標像素的電容擬合值計算得到電容擬合結果矩陣，包括：

利用所述多個第一目標像素的電容擬合值計算得到第一電容擬合結果矩陣；

利用所述多個第二目標像素的電容擬合值計算得到第二電容擬合結果矩陣；

根據所述第一電容擬合結果矩陣和所述第二電容擬合結果矩陣計算得到所述電容擬合結果矩陣。

5.根據權利要求4所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一電容擬合結果矩陣和所述第二電容擬合結果矩陣計算得到所述電容擬合結果矩陣，包括：

計算所述第一電容擬合結果矩陣和所述第二電容擬合結果矩陣的平均值作為所述電容擬合結果矩陣。

6.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述多個目標像素的電容均勻性確定所述目標區域的均勻性，包括：

判斷所述多個目標像素的電容均勻性是否位于預設范圍；

在所述多個目標像素的電容均勻性均位于所述預設范圍時，確定所述目標區域均勻性為合格；

在所述多個目標像素的電容均勻性中的至少一個未位于所述預設范圍時，確定所述目標區域的均勻性為不合格。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述觸摸屏包括邊緣區域和內部區域，所述邊緣區域位于所述觸摸屏的邊緣，所述內部區域位于所述邊緣區域內，

當所述目標區域包括所述邊緣區域和所述內部區域時，所述電容參考值為所述觸摸屏整個區域的中心像素的電容值；

當所述目標區域為所述內部區域時，所述電容參考值為所述內部區域的中心像素的電容值；

當所述目標區域為所述邊緣區域時，所述電容參考值為位于同一側邊緣的所述多個像素的電容平均值。

8.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，所述利用所述差值矩陣和設定的電容參考值計算得到每個所述目標像素的電容均勻性，包括：

當所述目標區域包括所述邊緣區域和所述內部區域時，或所述目標區域為所述內部區域時，根據所述差值矩陣和所述電容參考值的比值確定所述目標像素的電容均勻性。

9.根據權利要求7所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述多個目標像素的電容均勻性確定所述目標區域的均勻性，包括：

當所述目標區域為所述邊緣區域時，計算相鄰兩個目標像素之間的電容均勻性的差值并獲取到多個所述差值；

根據所述多個差值確定所述目標區域的均勻性。