[發明專利]一種指針識別方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011484137.0
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112613498A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 吳佳辰;孫海濤
• 申請（專利權）人: 浙江大華技術股份有限公司
• 主分類號: G06K9/20
• 分類號: G06K9/20;G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 杜晶

1.一種指針識別方法，其特征在于，該方法包括：

獲取圖像中包含儀表盤區域的子圖像；

通過預先訓練的指針識別模型，獲取所述子圖像的特征圖，并對所述特征圖進行轉置卷積處理，獲取所述子圖像中指針所在的區域；

根據所述子圖像中指針所在的區域，確定指針指示的數值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取圖像中包含儀表盤區域的子圖像包括：

基于預先訓練的儀表盤識別模型，獲取輸入的圖像中包含儀表盤區域的信息；

根據所述儀表盤區域的信息，確定所述圖像中對應的子圖像。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于預先訓練的儀表盤識別模型，獲取輸入圖像中包含儀表盤區域的信息包括：

基于預先訓練的儀表盤識別模型，對輸入的圖像進行第一卷積處理，獲取第一特征圖，對所述第一特征圖進行卷積處理，獲取第二特征圖，并對所述第二特征圖進行第二卷積處理，得到第三特征圖；對所述第三特征圖進行第一上采樣，將所述第一上采樣后的特征圖與所述第二特征圖進行級聯，得到第一目標特征圖，對所述第一目標特征圖進行卷積處理，得到第四特征圖，對所述第四特征圖進行第二上采樣，將所述第二上采樣得到的特征圖與所述第一特征圖進行級聯，得到第二目標特征圖，對所述第二目標特征圖進行卷積處理，輸出所述圖像中包含儀表盤區域的信息。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過預先訓練的指針識別模型，獲取所述子圖像的特征圖，并對所述特征圖進行轉置卷積處理，獲取所述子圖像中指針所在的區域包括：

基于預先訓練的指針識別模型，對輸入的所述子圖像進行卷積處理，獲得所述子圖像的第一子特征圖，對所述第一子特征圖進行卷積處理，獲得所述子圖像的第二子特征圖；對所述第二子特征圖進行轉置卷積處理，并將轉置卷積處理后的子特征圖與第一子特征圖進行融合，得到目標第一子特征圖；根據所述目標第一子特征圖，獲取所述子圖像中指針所在的區域。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標第一子特征圖，獲取所述子圖像中指針所在的區域包括：

基于預先訓練的指針識別模型，將所述目標第一特征圖進行卷積處理，獲得第三子特征圖；對所述第三子特征圖進行轉置卷積處理，并將轉置卷積處理后的子特征圖與目標第一特征圖進行融合，得到目標第二子特征圖；將所述目標第二特征圖進行卷積處理，獲得第四子特征圖；對所述第四子特征圖進行轉置卷積處理，并將轉置卷積處理后的子特征圖與目標第二特征圖進行融合，得到目標第三子特征圖；根據所述目標第三子特征圖，獲取所述子圖像中指針所在的區域。

6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，訓練所述儀表盤識別模型的過程包括：

獲取第一訓練集中的任一第一樣本圖像，其中，所述第一樣本圖像中預先標注有儀表盤區域的第一位置信息；

將所述第一樣本圖像輸入到原始儀表盤識別模型中，輸出所述第一樣本圖像中儀表盤區域的第二位置信息；

根據所述第一位置信息和第二位置信息，對所述儀表識別模型進行訓練。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，訓練所述指針識別模型的過程包括：

獲取第二訓練集中的任一第二樣本圖像，其中，所述第二樣本圖像中預先標注有儀表盤指針所在區域的第三位置信息；

將所述第二樣本圖像輸入到原始指針識別模型中，輸出所述第二樣本圖像中指針所在區域的第四位置信息；

根據所述第三位置信息和第四位置信息，對所述指針識別模型進行訓練。

8.一種指針識別裝置，其特征在于，該方法包括：

提取模塊，用于獲取圖像中包含儀表盤區域的子圖像；

所述提取模塊，還用于通過預先訓練的指針識別模型，獲取所述子圖像的特征圖，并對所述特征圖進行轉置卷積處理，獲取所述子圖像中指針所在的區域；

確定模塊，用于根據所述子圖像中指針所在的區域，確定指針指示的數值。